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Molecular Dynamics Simulation of Shock Response of CL-20 Co-crystals Containing Void Defects
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作者 Changlin Li Wei Yang +5 位作者 Qiang Gan Yajun Wang Lin Liang Wenbo Zhang Shuangfei Zhu Changgen Feng 《Defence Technology(防务技术)》 SCIE EI CAS CSCD 2024年第1期364-374,共11页
To investigate the effect of void defects on the shock response of hexanitrohexaazaisowurtzitane(CL-20)co-crystals,shock responses of CL-20 co-crystals with energetic materials ligands trinitrotoluene(TNT),1,3-dinitro... To investigate the effect of void defects on the shock response of hexanitrohexaazaisowurtzitane(CL-20)co-crystals,shock responses of CL-20 co-crystals with energetic materials ligands trinitrotoluene(TNT),1,3-dinitrobenzene(DNB),solvents ligands dimethyl carbonate(DMC) and gamma-butyrolactone(GBL)with void were simulated,using molecular dynamics method and reactive force field.It is found that the CL-20 co-crystals with void defects will form hot spots when impacted,significantly affecting the decomposition of molecules around the void.The degree of molecular fragmentation is relatively low under the reflection velocity of 2 km/s,and the main reactions are the formation of dimer and the shedding of nitro groups.The existence of voids reduces the safety of CL-20 co-crystals,which induced the sensitivity of energetic co-crystals CL-20/TNT and CL-20/DNB to increase more significantly.Detonation has occurred under the reflection velocity of 4 km/s,energetic co-crystals are easier to polymerize than solvent co-crystals,and are not obviously affected by voids.The results show that the energy of the wave decreases after sweeping over the void,which reduces the chemical reaction frequency downstream of the void and affects the detonation performance,especially the solvent co-crystals. 展开更多
关键词 CL-20 co-crystals Molecular dynamics simulation Reactive forcefield Impact response Hot spot void defect
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Void defect detection in ball grid array X-ray images using a new blob filter 被引量:4
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作者 Shao-hu PENG Hyun Do NAM 《Journal of Zhejiang University-Science C(Computers and Electronics)》 SCIE EI 2012年第11期840-849,共10页
Ball grid arrays (BGAs) have been used in the production of electronic devices/assemblies because of their advantages of small size, high I/O port density, etc. However, BGA voids can degrade the performance of the bo... Ball grid arrays (BGAs) have been used in the production of electronic devices/assemblies because of their advantages of small size, high I/O port density, etc. However, BGA voids can degrade the performance of the board and cause failure. In this paper, a novel blob filter is proposed to automatically detect BGA voids presented in X-ray images. The proposed blob filter uses the local image gradient magnitude and thus is not influenced by image brightness, void position, or component interference. Different sized average box filters are employed to analyze the image in multi-scale, and as a result, the proposed blob filter is robust to void size. Experimental results show that the proposed method obtains void detection accuracy of up to 93.47% while maintaining a low false ratio. It outperforms another recent algorithm based on edge detection by 40.69% with respect to the average detection accuracy, and by 16.91% with respect to the average false ratio. 展开更多
关键词 Ball grid array (BGA) X-RAY defect detection Blob detection void detection
原文传递
恒压下GIS固体绝缘界面气隙缺陷放电严重程度评估
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作者 唐志国 李阳 《高压电器》 CAS CSCD 北大核心 2024年第2期62-68,77,共8页
为了研究GIS绝缘子界面气隙缺陷的放电发展过程,文中设计了空洞气隙缺陷模型,搭建了一套GIS气隙缺陷放电长期测试平台。基于缺陷模型的击穿电压对带有缺陷的试品施加90%Ub、60%Ub、30%Ub的交流恒压,使用UHF检测系统采集放电数据直至试... 为了研究GIS绝缘子界面气隙缺陷的放电发展过程,文中设计了空洞气隙缺陷模型,搭建了一套GIS气隙缺陷放电长期测试平台。基于缺陷模型的击穿电压对带有缺陷的试品施加90%Ub、60%Ub、30%Ub的交流恒压,使用UHF检测系统采集放电数据直至试品击穿。提取放电次数、放电幅值、放电时间间隔分析放电状态特征,发现GIS气隙缺陷放电发展过程存在两个阶段,前期放电幅值缓慢增大,放电脉冲逐渐稀疏,放电发展较为平稳;后期放电幅值急剧减小,放电脉冲密集,放电发展剧烈,采用k⁃means聚类算法及BP神经网络建立了气隙缺陷局放发展阶段的划分规则。研究表明,放电次数、放电幅值、放电时间间隔3种统计参量呈现阶段式单调性的趋势,可以用3种统计参量前向差分绝对值作为特征参量来评估GIS气隙放电严重程度;对GIS恒压试验进行聚类分析将放电过程划分为平稳劣化阶段和加速劣化阶段,随着外施电压水平的降低,平稳劣化阶段被压缩,加速劣化阶段占比升高。 展开更多
关键词 GIS绝缘子 气隙放电 恒压法 状态划分 评估
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水下抛石电阻率特性试验研究
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作者 梁越 张宏杰 +3 位作者 许彬 马士谦 夏日风 代磊 《水利水运工程学报》 CSCD 北大核心 2024年第2期100-107,共8页
研究旨在利用电阻率技术解决水下抛石坝(隐蔽性工程)隐患探测和质量评价等关键问题。采用四电极法分析了水下抛石在不同供电电压和空隙率条件下的电阻率特性,并建立了电阻率与水下抛石空隙率的经验公式。结果表明:水下抛石电阻率随供电... 研究旨在利用电阻率技术解决水下抛石坝(隐蔽性工程)隐患探测和质量评价等关键问题。采用四电极法分析了水下抛石在不同供电电压和空隙率条件下的电阻率特性,并建立了电阻率与水下抛石空隙率的经验公式。结果表明:水下抛石电阻率随供电电压(10~60 V)升高呈先衰减后逐渐趋于稳定的变化特征,且供电电压高于30 V时电阻率衰减程度显著降低;水下抛石电阻率随空隙率的增加逐渐减小并趋于稳定(两者间的关系可用递减型幂函数表征),且不同供电电压下电阻率随空隙率的变化规律与此类似;分别选用幂函数、指数函数及对数函数拟合电阻率与空隙率关系,发现幂函数拟合误差最小,考虑供电电压影响最终建立了水下抛石电阻率与空隙率的经验公式;进一步通过水下抛石坝模型试验验证了经验公式的可靠性。该经验公式可有效描述水下抛石分布的密实程度,从而快速识别水下抛石坝内部隐患。 展开更多
关键词 水下抛石 隐患探测 电阻率 空隙率 供电电压
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基于PAM-RTM的CFRP平板RTM工艺及孔隙缺陷仿真
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作者 邹文涛 孟宪明 +5 位作者 程从前 宋通 张赛 曹铁山 吴昊 赵杰 《工程塑料应用》 CAS CSCD 北大核心 2024年第3期76-82,共7页
树脂传递模塑(RTM)成型过程中不同工艺参数对碳纤维增强树脂基复合材料(CFRP)构件质量和性能有极大影响。为了精准设计RTM成型参数,降低最终构件的孔隙缺陷含量,分析充模过程中两种尺度孔隙率的变化及在构件中的分布规律,基于PAM-RTM软... 树脂传递模塑(RTM)成型过程中不同工艺参数对碳纤维增强树脂基复合材料(CFRP)构件质量和性能有极大影响。为了精准设计RTM成型参数,降低最终构件的孔隙缺陷含量,分析充模过程中两种尺度孔隙率的变化及在构件中的分布规律,基于PAM-RTM软件对CFRP平板模型RTM成型的充模及双尺度孔隙形成进行了仿真模拟。分析了不同树脂黏度、浇注压力对填充时间及宏观和微观孔隙分布、孔隙率的影响规律;在构件中选取了不同位置的横向轴线并对比轴上宏观/微观孔隙的含量及分布特征,分析随着距离浇注口位置变化孔隙率的变化规律。结果表明,在恒压浇注条件下,浇注压力越大,树脂黏度越小,填充时间越短;树脂黏度为0.1Pa·s、浇注压力为1.5MPa时,充模时间最小,为13.11s。宏观孔隙率随浇注压力升高而减小,微观孔隙率则相反。宏观孔隙在开始填充一段时间后形成,孔隙率最终在出胶口达到最大值;微观孔隙则在填充初始阶段开始形成,孔隙率随着填充距离增加逐渐减小。3条横向轴上两种尺度孔隙率的变化趋势相近;浇注压力影响宏观孔隙开始形成的位置及微观孔隙结束形成的位置,并影响填充结束时的最大宏观孔隙率和填充开始时的最大微观孔隙率。 展开更多
关键词 树脂传递模塑 双尺度孔隙模型 孔隙缺陷 PAM-RTM软件 仿真
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封闭条件下温度对气隙放电影响的模拟研究
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作者 郑全福 张钊棋 +2 位作者 罗林根 盛戈皞 江秀臣 《电机与控制学报》 EI CSCD 北大核心 2024年第2期1-10,共10页
气隙缺陷往往导致局部放电(PD)现象,局放的发展过程与放电条件密切相关,通过放电的宏观表征来分析判断放电条件,是实现绝缘条件评估的重要途径。以温度对气隙缺陷下局放过程的影响为例,通过建立温度条件对放电过程的参数控制模型,研究... 气隙缺陷往往导致局部放电(PD)现象,局放的发展过程与放电条件密切相关,通过放电的宏观表征来分析判断放电条件,是实现绝缘条件评估的重要途径。以温度对气隙缺陷下局放过程的影响为例,通过建立温度条件对放电过程的参数控制模型,研究了不同温度对其微观发展过程的影响,得到了不同温度条件下的宏观表征。仿真研究表明,在封闭条件下,温度的升高会影响放电过程中的电子密度分布以及电场分布。在303、323和343 K的条件下模拟放电过程,其电流峰值依次为0.479、0.356和0.261 A,随温度升高逐渐下降;此外其电流脉冲持续时间依次为19.261、15.516和13.438 ns,随温度升高逐渐变短。最后,实地测量了不同温度下的放电电流,获得了与仿真模型一致的结果。 展开更多
关键词 局部放电 温度 流体模型 放电电流 气隙缺陷 参数控制
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掺杂剂种类对大直径直拉硅单晶中void微缺陷的影响
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作者 郝秋艳 孙文秀 +2 位作者 刘彩池 张建强 姚素英 《南开大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 2006年第6期64-67,共4页
研究了掺杂剂原子种类及快速热处理技术对大直径直拉硅单晶中空洞型微缺陷密度的影响.实验结果发现,掺入半径较大杂质原子的硅片,空洞型微缺陷密度相对较高,掺入半径较小杂质原子的硅片,空洞型微缺陷的密度相对较低.高温快速热处理后,... 研究了掺杂剂原子种类及快速热处理技术对大直径直拉硅单晶中空洞型微缺陷密度的影响.实验结果发现,掺入半径较大杂质原子的硅片,空洞型微缺陷密度相对较高,掺入半径较小杂质原子的硅片,空洞型微缺陷的密度相对较低.高温快速热处理后,硅片中FPD s的密度都有很大程度降低,而A r气氛退火对vo id微缺陷密度的影响要优于N2气氛.轻掺B硅片在O2气氛退火后FPD s密度下降最多,而重掺Sb硅片在O2气氛退火后FPD s密度下降最少. 展开更多
关键词 CZSI 空洞型微缺陷 FPDS 快速热处理
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交流叠加冲击电压下环氧绝缘内部气隙局部放电特性 被引量:1
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作者 何聪 张炜 +2 位作者 李良书 黄继军 李军浩 《电网与清洁能源》 CSCD 北大核心 2023年第3期33-39,47,共8页
GIS设备在运行过程中时常会受到各类瞬态冲击的作用,交流叠加冲击将严重威胁设备的绝缘安全。为掌握交流叠加冲击电压下环氧绝缘子的绝缘特性,构建叠加电压实验平台,研究分析SF6中环氧绝缘内部气隙缺陷在工频交流与操作冲击叠加电压下... GIS设备在运行过程中时常会受到各类瞬态冲击的作用,交流叠加冲击将严重威胁设备的绝缘安全。为掌握交流叠加冲击电压下环氧绝缘子的绝缘特性,构建叠加电压实验平台,研究分析SF6中环氧绝缘内部气隙缺陷在工频交流与操作冲击叠加电压下的局部放电特性,记录冲击过后的局部放电时域波形,统计最大放电量与放电次数,总结分析交流电压不同相位叠加冲击时的局部放电激发特性和规律。结果表明,操作冲击电压的叠加相位对绝缘内部气隙缺陷的局部放电起始特性具有显著的影响。在交流电压45°、90°与135°叠加操作冲击时可激发气隙缺陷发生局部放电,但放电剧烈程度存在差异;冲击叠加在其他相位时未能激发环氧绝缘内部气隙缺陷产生局部放电;冲击所激发的局部放电持续时间均不超过5个工频周期。 展开更多
关键词 环氧绝缘 气隙缺陷 交流叠加冲击 局部放电
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纵连板式轨道脱空对行车安全可靠性的影响分析 被引量:1
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作者 杲斐 程选生 《铁道科学与工程学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2023年第1期136-144,共9页
结构脱空是我国高速铁路纵连板式无砟轨道中典型结构病害之一,其存在严重影响了无砟轨道结构的长期服役性能,实现结构脱空病害的定量化评价与管理对线路养修作业具有显著的工程实践价值。采用轮轨耦合动力学和蒙特卡洛混叠建模的方法,... 结构脱空是我国高速铁路纵连板式无砟轨道中典型结构病害之一,其存在严重影响了无砟轨道结构的长期服役性能,实现结构脱空病害的定量化评价与管理对线路养修作业具有显著的工程实践价值。采用轮轨耦合动力学和蒙特卡洛混叠建模的方法,根据轮轨系统安全性评价指标,建立了纵连板式无砟轨道服役可靠性方程。其次,针对所建立方程无法显示化求解问题,采用蒙特卡洛法进行轮轨系统可靠度的求解;针对轮轨耦合动力学模型求解时间长的问题,采用长短时记忆神经网络代理模型方法对轮轨非线性映射关系进行表达。最后,提出了纵连板式无砟轨道服役可靠性求解的混合模型,对板端及板中脱空损伤状态下纵连板式无砟轨道服役可靠性分别进行计算。研究结果表明:长短时记忆神经网络代理模型方法可以有效地实现轮轨关系的映射,轮轨动力学计算效率提升27倍。利用长短时记忆神经网络代理模型和蒙特卡洛的混合计算方法对于无砟轨道服役可靠性的求解是可行的。板端脱空病害对脱轨系数可靠性指标影响较板中脱空显著,轨道板端全部脱空对服役可靠性危害性最大,存在结构失稳的风险。建议将结构可靠度指标作为无砟轨道状态管理的指标之一。 展开更多
关键词 无砟轨道 脱空病害 长短时记忆神经网络 可靠性 代理模型
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一种基于YOLOv5和轮廓约束的木材空洞缺陷应力波层析成像算法
10
作者 叶程浩 杜晓晨 鲍宇 《木材科学与技术》 北大核心 2023年第5期61-68,共8页
本研究针对木材空洞缺陷提出一种基于YOLOv5和轮廓约束的应力波层析成像算法,能在减少传感器数量的情况下保证成像的质量。首先,利用仿真软件生成的虚拟缺陷图像作为样本进行训练,并通过YOLOv5模型准确检测缺陷的位置;然后,采用轮廓约... 本研究针对木材空洞缺陷提出一种基于YOLOv5和轮廓约束的应力波层析成像算法,能在减少传感器数量的情况下保证成像的质量。首先,利用仿真软件生成的虚拟缺陷图像作为样本进行训练,并通过YOLOv5模型准确检测缺陷的位置;然后,采用轮廓约束算法对检测结果分别进行全局约束和局部约束,重建缺陷的轮廓并得到最终的成像结果。试验结果表明,基于YOLOv5和轮廓约束的应力波层析成像算法的平均准确度为94.73%,当应力波传感器从12个减少到6个时,该方法重建的缺陷图像相比最短距离法缺陷边缘清晰,平均精度提升了38.76%。 展开更多
关键词 YOLOv5模型 轮廓约束 木材空洞缺陷 应力波层析成像 传感器数量
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含缺陷分布的β-HMX单晶动态拉伸变形及破坏机理
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作者 黄龙杰 刘睿 +1 位作者 高飞艳 陈鹏万 《兵工学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2023年第12期3872-3883,共12页
为研究β-HMX炸药晶体内部缺陷对其力学行为的影响,采用分子动力学方法,基于Smith力场模拟含不同缺陷特征(孔隙率、孔洞数量和孔洞分布形态)的β-HMX单晶在动态拉伸下的变形、损伤及破坏过程。研究结果表明:孔隙率由1%增大至2%,β-HMX... 为研究β-HMX炸药晶体内部缺陷对其力学行为的影响,采用分子动力学方法,基于Smith力场模拟含不同缺陷特征(孔隙率、孔洞数量和孔洞分布形态)的β-HMX单晶在动态拉伸下的变形、损伤及破坏过程。研究结果表明:孔隙率由1%增大至2%,β-HMX单晶的抗拉强度与完美单晶相比下降5.3%~11.2%,杨氏模量降低3.6%~13.4%;孔隙率不变的条件下,材料的抗拉强度会随着孔洞数量的增多而下降;当孔洞间距较小时,在拉伸过程中孔洞之间发生相互作用,导致材料的抗拉强度降低;孔洞的分布形态对β-HMX炸药单晶抗拉强度影响较为明显,不同应变率下β-HMX单晶的破坏机理具有明显差异,在5×10~9 s^(-1)拉伸应变率下孔洞周围先形成细小裂纹,裂纹逐渐扩展导致β-HMX单晶发生断裂,材料具有明显断口,在1×10^(11) s^(-1)拉伸应变率下,β-HMX单晶内部形成多条裂纹,导致材料破坏失效;获得了含缺陷分布的β-HMX单晶动态拉伸变形及破坏机理,为优化β-HMX及其混合炸药的制备工艺和提高其力学性能提供了理论依据。 展开更多
关键词 β-HMX单晶 Smith力场 动态拉伸 缺陷特征 孔洞演化 破坏机制
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基于改进YOLOv4的磁瓦缺陷检测算法
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作者 张晓晓 邓承志 +2 位作者 吴朝明 曹春阳 胡诚 《计算机科学》 CSCD 北大核心 2023年第S02期377-383,共7页
磁瓦在生产制造过程中会因为工艺问题产生各种不同的缺陷,传统检测算法检测速度慢、精度低,为了实现磁瓦表面缺陷快速有效的检测,文中提出了一种改进YOLOv4算法的磁瓦缺陷检测方法。首先将scSE注意力模块嵌入特征提取主干网络中的CSPne... 磁瓦在生产制造过程中会因为工艺问题产生各种不同的缺陷,传统检测算法检测速度慢、精度低,为了实现磁瓦表面缺陷快速有效的检测,文中提出了一种改进YOLOv4算法的磁瓦缺陷检测方法。首先将scSE注意力模块嵌入特征提取主干网络中的CSPnet的残差单元中,增强小目标的空间特征和通道特征;其次,采用空洞卷积空间池化金字塔(ASPP)模块代替原有SPP模块,增大卷积核感受野,更多地保留图像细节并增强信息相关性;最后,在颈部部分用深度可分离卷积替换5次卷积块中的传统卷积,以此来更好地对特征信息进行提取,减小模型的参数量。实验结果表明,改进的YOLOv4算法对磁瓦表面缺陷检测的平均精度值达到96.67%,检测速度为44 ms,模型大小为249 MB,明显优于原始算法,具有较高的检测精度和实用性。 展开更多
关键词 缺陷检测 YOLOv4 scSE注意力 空洞卷积池化 深度可分离
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隧道二次衬砌脱空缺陷治理方法研究
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作者 付云飞 孙福昱 《工程技术研究》 2023年第24期213-216,共4页
文章介绍了治理隧道二次衬砌脱空缺陷的注浆处理工艺,并依托地质雷达检测对比了注浆前后的效果。实践证明,选用注水泥净浆的方法治理缺陷具备工艺简单、成本低、操作难度小等优势,而注微膨胀砂浆的方法具有易一次注满、修补效果好的优... 文章介绍了治理隧道二次衬砌脱空缺陷的注浆处理工艺,并依托地质雷达检测对比了注浆前后的效果。实践证明,选用注水泥净浆的方法治理缺陷具备工艺简单、成本低、操作难度小等优势,而注微膨胀砂浆的方法具有易一次注满、修补效果好的优势。两种方法各有优劣,项目应根据隧道脱空缺陷的实际情况合理选择注浆方式,经济、快速地治理缺陷。 展开更多
关键词 注浆处理 二次衬砌 脱空缺陷 地质雷达
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孔洞型缺陷对铸造铝合金应力分布影响的研究
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作者 吴海峰 许莎 +1 位作者 严颖清 万洪清 《农业装备与车辆工程》 2023年第11期146-149,173,共5页
铝合金在铸造过程中往往会生成孔洞型缺陷,这些缺陷容易造成应力集中进而影响材料的疲劳性能;不同缺陷对应力分布的影响是不同的,量化分析不同缺陷的影响有利于确定缺陷的危害程度。首先,对孔洞型缺陷进行简化建模,将缺陷简化为球体或... 铝合金在铸造过程中往往会生成孔洞型缺陷,这些缺陷容易造成应力集中进而影响材料的疲劳性能;不同缺陷对应力分布的影响是不同的,量化分析不同缺陷的影响有利于确定缺陷的危害程度。首先,对孔洞型缺陷进行简化建模,将缺陷简化为球体或椭球体进行量化分析;然后,利用ABAQUS软件对简化模型进行有限元分析,研究了缺陷深度、缺陷间距离、缺陷外形等3个缺陷特征对应力分布的影响;最后,对有限元分析结果进行分析,得到了缺陷特征和应力集中系数的非线性数学关系表达式。可为铸造铝合金试件的损伤检测提供一定理论参考。 展开更多
关键词 孔洞型缺陷 应力分布 应力集中系数 有限元仿真
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氮掺杂工艺以及退火处理对直拉法单晶硅的影响
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作者 熊欢 陈亚 +4 位作者 芮阳 伊冉 蔡瑞 王黎光 杨少林 《山东化工》 2023年第23期15-18,共4页
随着集成电路的飞速发展,要求超大规模集成电路用硅片具有更少的晶格缺陷及更低的有害杂质含量。因此,在晶体生长和器件制造过程中,必须对缺陷进行很好地控制,缺陷在硅材料的质量控制中起着关键作用。近年来通过氮掺杂控制缺陷动力学并... 随着集成电路的飞速发展,要求超大规模集成电路用硅片具有更少的晶格缺陷及更低的有害杂质含量。因此,在晶体生长和器件制造过程中,必须对缺陷进行很好地控制,缺陷在硅材料的质量控制中起着关键作用。近年来通过氮掺杂控制缺陷动力学并改变缺陷的演变已被广泛应用于直拉法单晶硅中。本文以氮掺杂技术为基础,介绍了氮掺杂剂的基本性质及其与CZ硅中点缺陷的相互作用,氮掺杂对氧沉淀物、空洞的影响,以及退火处理对晶体原生颗粒、体微缺陷等的影响。 展开更多
关键词 CZ硅 缺陷 氮掺杂 氧沉淀物 空洞
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固体绝缘中气隙尺寸对局部放电过程的影响 被引量:46
16
作者 潘浩 殷庆铎 高文胜 《高电压技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2008年第3期458-461,共4页
为了分析和评估固体绝缘中气隙缺陷局部放电的危害,提高局部放电检测的工程应用水平,试验研究了固体绝缘单一气隙缺陷模型;测量了不同模型试品的局放起始电压、起始放电量及放电信号波形;分析了固体绝缘内部气隙缺陷的几何尺寸对局放特... 为了分析和评估固体绝缘中气隙缺陷局部放电的危害,提高局部放电检测的工程应用水平,试验研究了固体绝缘单一气隙缺陷模型;测量了不同模型试品的局放起始电压、起始放电量及放电信号波形;分析了固体绝缘内部气隙缺陷的几何尺寸对局放特性的影响;考察了不同几何尺寸缺陷放电的发展过程和脉冲电流波形特征,发现不同尺寸缺陷结构的放电特性有所差异;归纳了不同场强下气隙放电的变化规律。试验结果表明,气隙缺陷尺寸越大,越易产生放电且放电量越大,外施场强增加则放电量增大,而固体绝缘中的局部放电随气隙缺陷尺寸变化表现出有差异的波形特征。 展开更多
关键词 局部放电 固体绝缘 气隙缺陷 放电特征 气隙尺寸 波形
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振荡操作冲击电压下绝缘子气隙缺陷局部放电特性研究 被引量:9
17
作者 张崇兴 任明 +2 位作者 周洁睿 董明 阙波 《电工技术学报》 EI CSCD 北大核心 2019年第14期3074-3083,共10页
通过搭建操作冲击电压下局部放电现场检测回路,试验探索振荡操作冲击电压下绝缘子气隙缺陷局部放电行为和产生机制,并对振荡操作冲击下局部放电脉冲序列特性进行建模与仿真研究。试验结果表明,振荡操作冲击电压下的局部放电脉冲随外施... 通过搭建操作冲击电压下局部放电现场检测回路,试验探索振荡操作冲击电压下绝缘子气隙缺陷局部放电行为和产生机制,并对振荡操作冲击下局部放电脉冲序列特性进行建模与仿真研究。试验结果表明,振荡操作冲击电压下的局部放电脉冲随外施电压的上升呈现阶段性特征;放电起始和熄灭场强均随着气隙半径的增加而减小;相同半径的气隙在振荡冲击电压下的放电起始场强较工频交流电压下更大;操作冲击下的放电脉冲数和放电量随着外施峰值场强的提高呈现急剧上升趋势。此外,建立考虑电荷记忆效应和蒙特卡洛随机过程的局部放电模型,并通过仿真较好地解释和描述了首次放电时延结果及脉冲统计分布的试验结果。 展开更多
关键词 振荡操作冲击电压 局部放电 气体绝缘开关设备 气隙缺陷 SF6
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钢锭内部孔隙性缺陷锻合过程的数值模拟 被引量:7
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作者 陈锟 杨弋涛 邵光杰 《塑性工程学报》 CAS CSCD 北大核心 2010年第1期6-10,共5页
通过比较圆柱体试样内部孔洞锻合过程的模拟计算结果和实验结果,确立了钢锭内部孔隙性缺陷锻合过程的模拟法,并对长孔型缺陷和短孔型缺陷的锻合过程进行了计算,得到各类孔洞的闭合规律,且定量给出了不同位置处孔洞闭合时所需的临界压下... 通过比较圆柱体试样内部孔洞锻合过程的模拟计算结果和实验结果,确立了钢锭内部孔隙性缺陷锻合过程的模拟法,并对长孔型缺陷和短孔型缺陷的锻合过程进行了计算,得到各类孔洞的闭合规律,且定量给出了不同位置处孔洞闭合时所需的临界压下率。从孔洞闭合的力学本质角度,对钢锭内部的等效应变分布情况进行了研究。结果表明,孔洞的闭合完全是由于应力集中并达到一定程度的变形所引起的。其中,四面体孔最难闭合,为所有孔洞锻合所需临界压下率的上限值。锻合区域的给出,为制订锻造工艺提供了理论依据。 展开更多
关键词 孔隙性缺陷 锻合区域 模拟法 应力集中
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绝缘材料电树枝发展过程中不同效应的影响 被引量:4
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作者 殷庆铎 高文胜 叶宽 《高电压技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第4期766-771,共6页
为研究局部放电对电树枝发展过程的影响,实验研究了聚乙稀和有机玻璃的放电特性并根据放电在绝缘材料内部形成的破坏痕迹及放电脉冲波形特征的分析结果,将气隙内局部放电的破坏形式分为直接放电破坏和沿面放电破坏2种类型。施压时间对... 为研究局部放电对电树枝发展过程的影响,实验研究了聚乙稀和有机玻璃的放电特性并根据放电在绝缘材料内部形成的破坏痕迹及放电脉冲波形特征的分析结果,将气隙内局部放电的破坏形式分为直接放电破坏和沿面放电破坏2种类型。施压时间对破坏痕迹影响的结果表明,局部放电会在含有气隙缺陷的绝缘材料中形成3种破坏效应,即热效应、化学腐蚀和机械应力作用,而楔形气隙模型试验研究局部放电破坏效应对电树枝生长过程影响的结果显示,局部放电的放电形式会影响材料的破坏状态,放电形成的破坏效应与电树枝生长状态之间具有一定的关系。这些结果意味着局部放电的行为特性与电树枝生长状态之间存在内在联系。 展开更多
关键词 局部放电 电树枝生长 气隙缺陷 放电类型 破坏效应 破坏痕迹
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XLPE 电缆水树老化过程中半导电层缺陷的形成机理 被引量:18
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作者 周凯 陶霰韬 +2 位作者 杨滴 陶文彪 杨明亮 《高电压技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2014年第1期124-130,共7页
交联聚乙烯(XLPE)电缆的半导电层缺陷诱发机理尚无定论。为此,在加速水树老化实验的基础上,观测了水树老化后电缆的内、外半导电层中的缺陷,并对这些缺陷的形成原因进行了讨论。采用水针法对长度为70 m的XLPE电缆进行加速老化,电缆的绝... 交联聚乙烯(XLPE)电缆的半导电层缺陷诱发机理尚无定论。为此,在加速水树老化实验的基础上,观测了水树老化后电缆的内、外半导电层中的缺陷,并对这些缺陷的形成原因进行了讨论。采用水针法对长度为70 m的XLPE电缆进行加速老化,电缆的绝缘性能逐渐下降,并在绝缘层中观察到水树缺陷。通过扫描电镜(SEM)观测到,老化样本的半导电层中有大量孔洞缺陷。进一步采用X射线能量色散谱(EDS)对内、外半导电层中的化学元素进行定量分析证明,老化后半导电层中氧(O)元素含量显著减少。因此,在长期老化过程中,半导电层中可能发生了电解质水溶液的电解反应,并生成了氧气(O2)和臭氧(O3),这种气体的生成是半导电层中孔洞缺陷发生及发展的原因。 展开更多
关键词 XLPE电缆 水树 半导电层 电解反应 孔洞缺陷 老化机理
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