Y-11(200)MS型波移光纤弯折工艺研究

为了减小闪烁体中子探测器的探测盲区,需要降低波移光纤的弯转光损失。针对波移光纤弯折工艺及批量检测工艺,研究了Y11(200)型波移光纤小半径弯折工艺和批量检测技术。经过多次反复测试,研究结果表明:所采用的水浴法弯折工艺上能够满足波移光纤光损耗均小于10%的工程要求。