Mn掺杂ZnO薄膜的软X射线发射光谱研究

利用先进光源(ALS)8.0.1光束线的软X射线荧光谱仪,对采用分子束外延(MBE)设备在200℃下生长的Zn0.97Mn0.03O和Zn0.67Mn0.33O薄膜样品进行了电子结构的研究.根据共振和非共振Mn L2,3边的X射线发射光谱,计算出Mn L2与Mn L3发射峰相对积分强度的比值(I(L2)/I(L3)),可知样品的铁磁性与自由d载流子的数目有关.在Zn0.97Mn0.03O中,Mn主要处于替代位置,并表现出较强的Coster-Kronig(C-K)跃迁效应,这说明样品中存在大量的自由d载流子.这些非局域的d载流子的行为类似于巡游电子,与Ruderman-Kittel-Kasuya-Yosid(RKKY)模型下计算得出的间隙Mn提供的4s电子,都可成为铁磁交换作用的媒介.在Zn0.67Mn0.33O中,自由d载流子的数目较少以及MnO团簇的存在是导致铁磁性向反铁磁性转变的主要原因.

软X射线发射光谱法研究过渡金属硅化物的价电子能带结构

用软 X射线发射光谱法对 Mn Si、Mn Si1.7这两种组成的过渡金属锰硅化物的价电子能带构造进行了研究 .首先在硅表面上形成了 Mn Si、Mn Si1.7单一相薄膜 ,并用 X射线衍射谱得到证实 .然后测量了这两种锰硅化物的软 X射线发射光谱 Si- Kβ发射光谱和 Si- L2 ,3发射光谱 ,Si- Kβ发射光谱反映的是硅化物的价电子能带的 Si- p部分电子态密度 ,而 Si- L2 ,3发射光谱反映的是硅化物的价电子能带的 Si- s,d部分电子态密度 .Mn Si、Mn Si1.7的 Si- L2 ,3发射光谱具有不同的形状 .这些不同形状的原因 ,对比着这两种硅化物的晶体结构和价电子的能带结构进行了分析与讨论 .

ICF靶硬X射线发射角分布实验观察

介绍了“神光－Ｉ”ＩＣＦ实验中硬Ｘ射线发射角分布实验观察结果，做了简单讨论并与国外同类实验结果做了比较。

超强激光超热电子激发的KαX射线发射研究

建立了无色散型X射线谱仪.利用SILEX-I激光装置的超强激光辐照固体物质,分别在靶前、后定量测量了Cu和Mo物质在不同激光功率密度时的X射线谱和Kα光子产额,推导了不同激光强度时的KαX射线光子转换效率.实验发现,打靶激光能量越高,靶后出射的Kα产额越高,100μmMo靶可获得10-5量级转换效率.

电子加速器X射线发射率的MCNP分析

为满足现代X射线应用和设计电子加速器的靶结构和束流参数的需要,采用MCNP4B程序对2～20MeV能量范围内的电子束入射不同厚度钨靶的X射线发射率进行了系统的模拟计算和研究。结果表明在电子能量小于10MeV时,MCNP4B的结果与NCRP-51报告一致,但在10MeV以上,它们间的差别增大。该文结果对早期NCRP-51报告的结果有重要的改进,对于现代产生X射线的电子加速器靶的设计具有参数作用。

超短强激光辐照Ar喷气靶的X射线发射

利用带差分抽运系统的高效高分辨率软 X射线大面积透射光栅光谱仪 ,对超短强激光脉冲辐照下氩气体靶的软 X射线发射特性进行了光谱诊断。测得了氩气 1 2 nm～ 35 nm范围内的 X射线发射光谱 ,并观察到

基于PILATUS探测器的von Hamos构型X射线发射谱谱仪及数据获取

高能量分辨X射线发射谱(X-ray Emission Spectroscopy,XES)比常规X射线吸收精细结构谱(X-ray Absorption Fine Structure,XAFS)具有更高的能量分辨率,是探究物质精细电子结构的有力工具。PILATUS探测器是一种没有暗电流和读出噪声的单光子计数探测器,基于该探测器,在上海光源BL14W1线站搭建了一套von Hamos构型XES谱仪及数据获取系统,能量分辨率达到eV量级,接近此类构型光谱仪的世界先进水平。该光谱仪采用PILATUS探测器作为位置灵敏探测器使用,并结合线站单色器和KOHZU平台系统开发了一套基于LabVIEW软件的XES数据获取系统。对光谱仪系统进行了能量分辨率测试和CuO发射谱测量实验,获得样品发射的能量为8046 eV弹性散射峰的半高宽(Full-Widthat Half Maximum,FWHM)为1.67 eV,表明基于PILATUS探测器的von Hamos构型XES谱仪系统可以满足高能量分辨实验的需求。

预脉冲激光对线状等离子体X射线发射特性的影响

报道了能量比为１１０、间隔为２００ｐｓ、脉冲宽度为１２０ｐｓ的双脉冲激光驱动线状等离子体的Ｘ射线发射特性。通过与单脉冲驱动情况比较，获得了预脉冲作用下，等离子体轴向辐射增强的空间分布特性。并针对若干重要的辐射跃迁的增强情况。

强激光与气凝胶靶相互作用的二次谐波与X射线发射的实验研究

主要通过对气凝胶多孔材料平面靶产生的激光等离子体Ｘ射线和谐波发射的研究，发现气凝胶平面靶的光谱发射与普通平面靶明显不同。气凝胶靶发射的Ｘ射线光厚较薄，容易产生二次谐波的次峰结构，这是由于气凝胶靶本身的低密度特性容易激发离子声衰变不稳定性而引起的。

Ar的类氦和类锂离子与Mo表面相互作用过程中的x射线发射

在兰州重离子加速器国家实验室电子回旋共振离子源上用Si(Li)探测器观测到了不同动能的Ar15+和Ar16+离子与Mo表面相互作用过程产生的x射线.在不同动能的Ar16+与Mo表面作用过程中不仅能观测到Ar的K层x射线而且能观测到Mo的L层x射线.在不同动能的Ar15+入射下只能观测到Mo的L层x射线.实验结果表明,Ar的K层x射线的产额与入射离子的动能、作用过程中形成的空心原子携带的势能以及入射离子和靶原子x射线的竞争等有关,Mo的L层x射线随入射离子动能的增加而增加.

激光等离子体非平衡X射线发射谱理论研究

在平均离子模型的基础上,发展了一个计算离子组态概率分布的有效方法,称为统计方法.根据激光靶耦合程序模拟给出腔靶等离子体状态条件,研究1.06μm激光金等离子体的非平衡离子组态分布和X射线发射谱特性.得到与实验谱相同的能带范围,并得出在激光等离子体中多电子同时处于激发态的离子组态对X射线发射的贡献不能忽略的结论.

X射线发射光谱测定法的发展趋势简介

本文简要介绍在Ｘ射线发射光谱测定法（ＸＲＳ）中的实验设备、研究方向和定量分析方法等的当前趋势．尽管ＸＲＳ是核技术应用的一个老的领域，但在各种形式的ＸＲＳ中，当前的进步是引人注目的．现在，ＸＲＳ是强有力的可实现的用于样品日常分析和物质精细结构研究的分析技术．

薄膜特性的掠发射X射线荧光分析

掠射X射线荧光分析技术是实验室分析薄膜特性的一种重要工具。文章简述了利用掠出射X射线荧光技术分析薄膜厚度的原理和方法,介绍了一种可在实验室里实现薄膜特性测试的掠发射X射线荧光分析装置,该装置采用波长色散方式结合超薄窗流气正比计数管,可实现对轻元素的探测。最后从理论上计算了Si片上不同厚度的几种单层薄膜的X射线荧光强度和掠出射角的依赖关系。证明了掠发射X射线荧光分析是一种精确的分析薄膜厚度等特性的方法。

Fe^(24+)离子双电子复合以及和H_2 碰撞的共振转移与激发X射线发射过程的研究

以准相对论Hartree-Fock理论为基础,对Fe^(24+)离子KLn(n=L,M,N,O,P)共振激发态可能辐射衰变通道的双电子复合过程的共振强度进行了系统的理论计算研究,计算了KLL共振激发态谱项能级电偶极允许跃迁的共振强度和截面,在此基础上,根据已有H_2分子的实验Compton轮廓,进一步计算了能量在300—800 MeV范围内,抛射体Fe^(24+)离子俘获H_2分子靶电子的KLn(n=L,M,N,O,P)共振电荷转移与激发X射线发射截面,计算结果与最新实验值或者其他理论计算结果做了对比分析,研究表明,对于Fe^(24+)离子KLn(n=L,M,N,O,P)的双激发态,Kα辐射衰变通道对双电子复合过程的共振强度贡献最大,是起主导性作用的重要通道,Kα辐射衰变X射线的波长范围λ为1.850—1.880A,而非Kα辐射衰变的波长范围λ为1.460—1.601 A,两者共振X射线的波长位置并不重叠。

太阳耀斑中单能X射线源发射(I)

本文用大量天文观测数据证明：在太阳耀斑中存在来自ｐ－ｅ－ｐ过程的单能（～１２．５ｋｅＶ）的Ｘ射线源发射。

X射线激发发射光谱仪的设计及实现

基于时间相关单光子计数原理的探测系统,设计并实现了一种新型的X射线激发发射光谱仪,以有效探测高能X射线激发闪烁体的发光强度(尤其是微弱的发光)及相关的余辉特性测量。通过对常见的Cs I(Tl)、LYSO(Ce)闪烁晶体和Tb3+激活硅酸盐闪烁玻璃等的测试结果表明,所研制的X射线激发发射光谱仪能很好地满足闪烁材料的研发需要。

X射线光电发射材料

分析 X射线光电效应的特点 ,讨论俄歇电子和二次发射电子的产生机理。从“自由原子”模型出发 ,在理论上探讨 X射线光电发射的原理 ,建立 X射线光电发射的初步理论模型 ,讨论影响 X射线光电发射量子产额的几个特性参数 ,并对两个国际上常用的绝缘材料进行了计算 ,在此基础上提出了具有较高量子产额的全新硬

X射线荧光光谱分析

作为《分析试验室》定期评述“X射线荧光光谱分析”系列评论第八篇 ,本文收集了国内学者在 1 998年 7月至 2 0 0 0年 6月期间公开发表在国内外期刊和国际会议文集上的 1 2 9篇论文 ,并对此期间我国 X射线荧光光谱分析的概况、发展和在国际上的地位进行了评述 ,内容包括仪器及维修、基体校正、数据处理方法、谱分析方法的研究、标样及样品制备、全反射 X射线荧光光谱、同步辐射光源 X射线荧光光谱、粒子激发 X射线发射、X射线荧光光谱分析方法研究及其应用。

高电荷态Ar^(17+)离子与不同固体表面相互作用的X射线谱研究

报道了利用光谱技术研究高电荷态Ar17+离子入射金属Be、Al、Ni、Mo、Au靶表面产生的X射线谱.实验结果发现Ar17+离子与固体表面作用发射的Ar K-αX射线形状与靶材料没有明显的关系,随入射离子能量的增加,K-αX射线强度减小.