手持式X-射线荧光光谱仪在金属材料检测中的应用

系统评述手持式X-射线荧光光谱仪的发展过程,详细比较、分析其辐射情况,探讨金属材料状态对检测的影响。综合基本参数法、自动选择模式测试金属材料的数据,提取检测结果,与认定值或其他方法的分析结果基本吻合。

采用X-射线荧光光谱仪测定玻璃化学成分

介绍了利用X-射线荧光光谱仪采用熔片方法检测玻璃化学成分的方法。具体介绍了制样过程、标准样品的选择、光谱仪测试条件的确定及标准曲线的建立,以及最终完成对玻纤样品化学成分的分析。并对该方法的准确度和精密度做了验证试验。

Axios^(mAX)型X-射线荧光光谱仪故障处理与维护

针对Axios^(mAX)型X-射线荧光光谱仪的日常点检、维护与故障处理等工作进行了归纳总结,为仪器的使用人员和维修人员提供了相关参考,降低仪器故障率,提高工作效率,确保检测结果准确可靠。

X-射线荧光光谱仪测定钛铁中Si、Mn、P、Al、Cu

用X-射线荧光光谱仪测定钛铁中Si、Mn、P、Al、Cu的含量。通过对制样方法的研究,确定了合适的研磨时间、压力和保压时间,选择了仪器的最佳测量条件,用压片法在X-射线荧光光谱仪上建立了元素的工作曲线;通过强度测量与化学比对,精度、准确度能满足分析需要。

X-射线荧光光谱仪分析铁矿石中TFe成分

铁矿石作为炼铁的重要原料,其成分对于高炉生产的持续性以及最终的铁水质量影响甚大,特别是其中的TFe成分测定更是重中之重。因此文章重点探讨X-射线荧光光谱仪来对铁矿石中的TFe成分进行测定。

便携式X-射线荧光光谱仪快速测定固体废物中的铜、镍、铬

在应急现场,通过运用便携式X-射线荧光光谱仪对处理好的固体废物中的重金属元素铜、镍、铬进行快速的重复测定,其测定结果的重现性较好,并且与实验室利用原子吸收光谱法测定的值较为一致,为决策者快速提供了数据依据。

大气对X-射线荧光光谱仪检测土壤样品中硫的影响

根据X-射线荧光光谱仪检测土壤中硫的实践经验,发现了该检测方法中大气对土壤样品的检测结果有一定的影响。通过对所采集的太原河东11个样品的检测,以及对标准试样GSS-7、GSS-6系列样品的对比,证明了样品在空气中放置时间,即大气对检测结果的偏差。最后笔者采取即刻检测方法,对太原河东样和标准试样进行了测定,充分证明了检测土壤样品在大气中放置时间对检测结果的影响程度,应该引起土壤检测工作者的足够重视。

X-射线荧光光谱仪快速筛查大米中镉的含量

目的建立X-射线荧光法测定大米中镉含量的分析方法。方法样品经粉碎后,压片,直接置于仪器上测定25 min。结果仪器方法检出限和定量限分别为0.035和0.094 mg/kg;准确度标准偏差为0.015 5,td=0.30,重复性χ2=5.32,12 h内仪器稳定性χ2=11.07,随机两台仪器测定结果的标准偏差为0.021 3。结论 X-射线荧光光谱仪检出限和定量限能够满足大米中镉的检测的标准要求,仪器准确度、重复性和稳定性符合快速测定要求,X-射线荧光法为大米中镉的快速筛查提出了新方法,同时为基层粮库稻米收购,食品原料验收和监管提供了技术支撑。

X-射线荧光光谱仪分析铁矿石中TFe成分

本文介绍了一种X-射线荧光光谱仪熔片法分析铁矿石中TFe成分的方法,该分析方法具有操作简单、分析速度快、节省人力等优点。本文对熔剂类型、熔剂稀释比、是否加内标、内标加入量、脱模剂用量、熔样温度等因子进行分析优化,利用六西格玛工具^([1])配对T检验对我公司炼铁使用的铁矿石中TFe成分分析方法进行研究,通过对化学法和X-射线荧光光谱法两种方法进行比较,最终确定了化学法分析变更到X-射线荧光光谱仪分析铁矿石中TFe的含量,使铁矿石检验满足生产检验数据准确性的同时使分析过程更加快捷、方便,满足我公司生产的要求。

X-射线荧光光谱法测定磷矿中五氧化二磷、氧化钙、三氧化二铁、氧化铝、氧化镁和二氧化硅

采用四硼酸锂和偏硼酸锂混合熔剂[m(Li2B4O7)∶m(LiBO2)=12∶22]熔融磷矿样品制成玻璃样片,用波长色散X-射线荧光光谱仪测定样片中P2O5,CaO,Fe2O3,Al2O3,MgO和SiO2含量。用磷矿标样经同法测定并对测定结果进行理论α系数校正后绘制工作曲线。用本法对一试样测定11次,得到各组分的相对标准偏差小于1.2%。本法已用于磷矿样品分析,测定结果与化学法一致。

X-射线荧光光谱法测定生铁中硅和磷

探讨了应用能量色散型X-射线荧光光谱仪测定生铁中硅和磷的炉前快速分析方法。该方法所得测定结果与化学法测定结果或标样认定值相吻合,相对标准偏差小于1.3%,与化学法相比,硅和磷的测定时间由15 min缩短到2 min。

X-射线荧光光谱法测定钛铁中的硅、锰、磷、铝

介绍用X-射线荧光光谱仪测定钛铁中Si、Mn、P、Al含量的方法,通过试验确定了合适的研磨时间、压力和保压时间,用压片法制样,建立了各元素的工作曲线,各元素的测定范围分别为Si3.00%～6.00%,Mn1.00%～3.00%,P0.030%～0.070%,Al5.00%～9.00%。通过强度测量得到测定Si、Mn、P、Al的相对标准偏差分别为0.074%、0.308%、0.383%、0.040%,精密度满足测试要求。将该方法测定结果与化学法比对,准确度满足国家标准方法分析误差的要求。

X-射线荧光光谱直接压片法测定氧化铝中杂质Ga_2O_3含量

用X-射线荧光光谱直接压片法测定氧化铝中杂质Ga2O3含量。该方法快捷方便,准确度、精密度高,能满足科研和工业生产的需要。

X-射线荧光光谱测定斑岩铜矿中的钽、铪

采用日本理学3080E3型全自动X-射线荧光光谱仪,测定斑岩铜矿中的钽、铪等元素。使用经验系数法,求取基体校正系数和谱线重叠校正系数。方法准确、灵敏、稳定性好、速度快。

X-射线荧光光谱法测定石灰石粉中的SiO_2含量

本法采用压片的方式将样品压制成片,通过X-射线荧光光谱仪来测定石灰石粉中的SiO2含量,本方法操作简便,分析周期短,结果符合允许误差要求,可用于生产检验。

利用X射线荧光光谱仪检测蚕丝纱丽服扎丽纱包覆层中的金属元素含量(英文)

扎丽纱(zari thread)是一种包裹了镀金的银-铜合金扁平金属线的精细染色蚕丝纱线。利用能量扩散X-射线荧光(ED-XRF)光谱仪(简称光谱仪)对扎丽纱进行无损分析,需要定期用扎丽纱的化学分析(破坏性的)数据进行校准。扎丽纱包覆层的金属成分不断改变以适应消费者的需求。为了准确校准光谱仪的数据,分别用化学分析法(质量法)和光谱仪对34个扎丽纱样品的金属包覆层进行测试。对扎丽纱金属包覆层的银、铜和金3种元素含量的测定数据进行统计分析的结果表明:用2种方法检测到的银和铜的含量均无显著差异;而金元素含量只有≥0.80%时,才适合用光谱仪检测,因为光谱仪所检测的只是金属包覆层的很小部分(50μm×50μm)。由于扎丽纱银-铜合金扁平金属线是镀金的,其中的金元素含量取决于电镀工艺条件,如单位时间电源电压变化、合金每秒所暴露的面积、溶液中金离子的浓度等。

X-荧光光谱法在土壤调查中的应用

采用硼酸镶边、垫底压制土壤粉末样品,用X-荧光光谱仪分析其中铜、铅、铬、锌、镍等元素浓度。主要讨论了样品粒度对分析元素测定结果的影响。分析了标准样品及实际样品,其结果与标准值及化学法、原子吸收法测定结果相吻合。用土壤标准物质作精密度试验,统计结果表明,各组分RSD均小于3.74%。

X-射线荧光光谱压片法分析进口铁矿石中全铁

介绍了一种X-射线荧光光谱压片法分析进口铁矿石中全铁的方法,该方法具有操作简单、分析速度快、节省人力、减少化学试剂使用和废液排放等优点。利用六西格玛工具叫,优化分析条件,通过对化学湿法和X-射线荧光光谱法分析数据进行比较,最终确定了化学湿法变更到X-射线荧光光谱法分析进口铁矿石中全铁的含量,该方法满足生产对准确性和及时性的要求。

X射线荧光光谱压片法测定白刚玉中微量元素含量

分析粉末压片法X射线荧光光谱法测定白刚玉中微量元素含量的分析方法,研究在压片过程中分散剂三乙醇胺的用量,颗粒效应等对测量的影响。用系列定值的氧化铝校准样品绘制工作曲线,以仪器自带的基体校正方法消除吸收与散射效应,对白刚玉样品中SiO_2、Fe_2O_3、CaO、K_2O、Na_2O、ZnO 6个元素进行测量,同一试样的11次压片测量,各成分结果的相对标准偏差在0.85%~5%范围之间。用氧化铝标准样品和白刚玉样品验证,该方法与化学法测定样品结果之间一致性良好。