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轻量化的PCB表面缺陷检测算法
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作者 张果 陈逃 +1 位作者 王剑平 杨凯钧 《北京邮电大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2024年第2期38-44,共7页
针对印刷电路板(PCB)表面缺陷检测存在的速度低和准确率不高等问题,提出了一种基于改进YOLOv4-tiny模型的PCB表面缺陷检测算法。首先,采用了优化后的聚类方法对缺陷数据集进行聚类,以解决初始先验框不适合PCB表面缺陷检测的问题;其次,... 针对印刷电路板(PCB)表面缺陷检测存在的速度低和准确率不高等问题,提出了一种基于改进YOLOv4-tiny模型的PCB表面缺陷检测算法。首先,采用了优化后的聚类方法对缺陷数据集进行聚类,以解决初始先验框不适合PCB表面缺陷检测的问题;其次,为了解决主干网络在下采样时可能丢失小尺度目标信息的问题,引入了切片操作;接着,在特征融合网络中,引入了软池化卷积结构,以提高模型感受野,增强对小目标特征的表达能力;最后,通过引入改进后的交叉熵损失函数优化了损失函数。在北京大学开源的印刷电路板缺陷数据集上验证了所提算法的效果,结果表明,相较于其他经典算法,所提算法在检测速度、精度和模型参数量等指标上都有较大的提升。 展开更多
关键词 印刷电路板表面缺陷检测 yolov4-tiny 切片操作 交叉熵损失函数
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