溶剂浸渍滤纸的制备及其在X射线荧光光谱分析中的应用研究之三地质样品中微量锆铪的测定

报道了Ｐ５０７－ｐＭＢＰ溶剂浸渍滤纸（ＳＩＦＰ）的制备及其吸附性质；提出含微量Ｚｒ、Ｈｆ的岩矿样品经碱熔分解后用强阳离子交换树脂静态吸附分离大量干扰元素，再用Ｐ５０７－ＰＭＢＰＳＩＦＰ富集Ｚｒ与Ｈｆ，然后用ＸＲＦ光谱直接测定ＳＩＦＰ上Ｚｒ、Ｈｆ的方法；考察了阳离子交换树脂分离干扰元素的条件，以及在残留干扰元素存在下Ｐ５０７－ＰＭＢＰＳＩＦＰ对Ｚｒ、Ｈｆ的富集情况等；对分析误差的来源，样品分析的精密度，ＳＩＦＰ样片的稳定性等也进行了讨论；所拟方法经用ＧＳＲ及ＧＳＳ系列部分地质标准样品分析验证，其结果与推荐值符合。

有机共沉淀富集铌钽锆铪X射线荧光光谱法测定痕量铌钽

本文对丹宁－甲基紫有机共沉淀富集Ｘ射线荧光光谱法测定痕量铌、钽、锆、铪进行研究。在０．３ｍｏｌ／Ｌ盐酸介质中，使用１００ｍｇ丹宁和５０ｍｇ甲基紫在加热至１００℃时沉淀Ｎａ、Ｔａ、Ｚｒ、Ｈｆ，它们的；回收率在８５～９６％之间。沉淀过滤在滤纸片上制成薄样，选用合适的分析线，测得Ｎｂ、Ｔａ、Ｚｒ、Ｈｆ的绝对检出限分别为０．１０２μｇ、０．２４５μｇ、０．０９７μｇ和０．４８５μｇ。比粉开压法Ｘ荧光分析的检出限降低约一个数量级。