牙科显微镜在探查上颌第一恒磨牙近颊根管口的应用

目的探讨牙科显微超声技术在探查上颌第一恒磨牙近颊根管口的应用。方法以76颗离体上颌第一恒磨牙为研究对象,首先采用传统方法开髓并探查近颊第二根管口(MB2),未能发现MB2者改良髓腔形态后继续探查,最后在牙科显微镜下采用超声技术对肉眼未能发现MB2的离体牙进行最终探查和确认。结果上颌第一恒磨牙近颊第二根管发现率为81.6%,其中传统方法探查发现率为31.6%,改良髓腔形态后在肉眼条件下MB2的发现率增至61.8%,使用牙科显微镜又使MB2的最终发现率提高至81.6%。近颊两根管口的间距为(1.42±0.51)mm。结论显微超声技术有助于发现较隐匿的MB2根管口,对于完善根管治疗具有较大临床意义。