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阳极氧化铝薄膜厚度测试方法的研究 被引量:7
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作者 李东栋 朱绪飞 +1 位作者 孟大伟 肖迎红 《电子元件与材料》 CAS CSCD 北大核心 2005年第12期64-66,共3页
通过自制的铝电解电容器模型,利用氧化铝薄膜具有的介电性能,通过电容量法可以准确快捷地计算氧化膜的厚度,并通过显微直接观察法、电解电量法、伏安法进行了验证。得到如下结论:所用铝条样品天然氧化膜的厚度约为8.0nm;在H3PO4溶液中... 通过自制的铝电解电容器模型,利用氧化铝薄膜具有的介电性能,通过电容量法可以准确快捷地计算氧化膜的厚度,并通过显微直接观察法、电解电量法、伏安法进行了验证。得到如下结论:所用铝条样品天然氧化膜的厚度约为8.0nm;在H3PO4溶液中形成的氧化膜厚度随氧化时间变化为50~80nm;阻档层生成率1.219。 展开更多
关键词 电子技术 阳极氧化铝 氧化膜 介电性能 厚度
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