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X射线衍射法测量陶瓷复合材料的晶界应力 被引量：2
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作者 穆树人 邓振炎 《实验室研究与探索》 CAS 1997年第2期50-52,共3页
用X射线衍射方法测量SiC颗粒补强Al_2O_3陶瓷复合材料的晶界应力,发现SiC颗粒内的热剩余应力为压应力,且随SiC颗粒增加,复合材料的应力也随着增加.这一结果与理论模型计算的结论定性相符,并解释了SiC颗粒补强Al_2O_3复合材料力学性能改... 用X射线衍射方法测量SiC颗粒补强Al_2O_3陶瓷复合材料的晶界应力,发现SiC颗粒内的热剩余应力为压应力,且随SiC颗粒增加,复合材料的应力也随着增加.这一结果与理论模型计算的结论定性相符,并解释了SiC颗粒补强Al_2O_3复合材料力学性能改善的主要机理. 展开更多
关键词 陶瓷复合材料 晶界应力 X射线衍射
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