一种高可靠性IP设计的机理研究及设计实现

本文是基于一种实现高可靠性IP设计的物理机理研究,首先探究了影响高可靠性IP设计的物理机理一方面来源于电迁移EM现象造成的“硬伤”,进而探讨了可用来衡量高可靠性IP的平均无故障时间MTTF的计算公式,并据此分析了对应芯片制程工艺演进的EM加剧效应。再者通过实验分析手段考察了影响高可靠性IP设计的噪声因素,界定其属于影响可靠性IP设计的“软伤”,从应对软噪声的角度提出了采用不同于常规的高电压(HV)设计方案,来实现改善高标准单元库IP设计的可靠性,进而提出一种实现高可靠性IP设计的可行方案,这一方案同时具有减小漏电流效果。