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Perl语言在wafer测试数据分析和处理中的应用
1
作者
李晶晶
《电子世界》
2014年第22期350-351,共2页
半导体wafcr测试过程中,ATE设备会生成大量的测试数据,测试工程师经常需要对这些海量的测试数据做分析和处理,以便找出测试结果的趋势和规律。传统的借助于OFFICE软件的方法,往往存在效率低下,错误率高等缺点,本文介绍了一些借助...
半导体wafcr测试过程中,ATE设备会生成大量的测试数据,测试工程师经常需要对这些海量的测试数据做分析和处理,以便找出测试结果的趋势和规律。传统的借助于OFFICE软件的方法,往往存在效率低下,错误率高等缺点,本文介绍了一些借助于Pefl语言对Wafer测试数据进行分析和处理的方法。这些方法可以大大提升wafer测试数据分析和处理的效率,以便工程师在最短的时间归纳总结出测试结果。
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关键词
PERL
ATE
自动生成
批处理
PAT
处理
MAP图
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职称材料
题名
Perl语言在wafer测试数据分析和处理中的应用
1
作者
李晶晶
机构
上海华虹宏力半导体制造有限公司测试开发部
出处
《电子世界》
2014年第22期350-351,共2页
文摘
半导体wafcr测试过程中,ATE设备会生成大量的测试数据,测试工程师经常需要对这些海量的测试数据做分析和处理,以便找出测试结果的趋势和规律。传统的借助于OFFICE软件的方法,往往存在效率低下,错误率高等缺点,本文介绍了一些借助于Pefl语言对Wafer测试数据进行分析和处理的方法。这些方法可以大大提升wafer测试数据分析和处理的效率,以便工程师在最短的时间归纳总结出测试结果。
关键词
PERL
ATE
自动生成
批处理
PAT
处理
MAP图
分类号
TP311.13 [自动化与计算机技术—计算机软件与理论]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
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1
Perl语言在wafer测试数据分析和处理中的应用
李晶晶
《电子世界》
2014
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