力调制技术在区分聚合物薄膜晶畴、非晶畴中的应用

聚合物材料多为半晶态 ,晶畴和非晶畴共存。采用扫描探针显微术的力调制技术 ,成功区分出聚合物薄膜P(VDF TrFE)中存在的弹性性质相差悬殊的两类畴 :高弹性畴和低弹性畴 ,并推测高弹性畴对应于P(VDF TrFE)的晶畴。由此可见 。