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用条纹图形拼接法测量三维大物体面形 被引量:17
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作者 陈明仪 吴德柱 程维明 《光学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1998年第1期74-79,共6页
三维物体面形的测量在各个领域中有着广泛的应用,用莫尔法、调制光场分析法测量具有非接触性、高精度、快速的特点,但对于大物体的测量却存在着许多困难,诸如阴影噪声难以消除、条纹对比度低。考虑到图形的相关性,本文提出了一种基... 三维物体面形的测量在各个领域中有着广泛的应用,用莫尔法、调制光场分析法测量具有非接触性、高精度、快速的特点,但对于大物体的测量却存在着许多困难,诸如阴影噪声难以消除、条纹对比度低。考虑到图形的相关性,本文提出了一种基于多孔径拼接原理的测量三维大物体面形的方法:条纹图形拼接法,给出了数学模型、计算机模拟结果和实验结果。 展开更多
关键词 三维大物体 面形测量 条纹图形拼接法 光学
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