先天性智能低下儿的染色体脆性位点探讨

对１０４例先天性智能低下儿和３７例正常儿分别进行叶酸敏感型染色体脆性位点表达、外周血淋巴细胞培养、染色体制备和核型分析，结果为：智能低下儿染色体脆性位点表达率明显高于正常儿（Ｐ＜０．０１）。脆性位点在各组（Ａ－Ｇ）和Ｘ染色体表现众数为Ａ、Ｃ组，表达率较高为Ａ、Ｃ组和Ｘ染色体。本文研究不仅得出了染色体脆性位点的表达和分布，而且进一步说明了染色体脆性位点的检测对智能低下儿的诊断提供了有价值的实验资料。