腭化语音构音机理的初步研究

目的：腭化构音多见于早期手术后腭咽机能正常的腭裂患者及无器质性病变的语音障碍患者。本文以电腭图检测患者发音时舌腭接触状况，探讨腭化构音机理。材料与方法：分析４名腭裂修复术后腭咽闭合良好的腭裂患者及４名无器质性病变的腭化构音患者的电腭图和语音清晰度，并与３０名正常发音者对照。结果：腭化构音可降低语音清晰度，主要涉及辅音／ｓ／、／ｚ／、／ｃ／、／ｔ／、／ｊ／、／ｑ／等舌尖前音、舌尖中音、舌面音。电腭图图像显示舌腭接触较正常发音者广泛或／和靠后。结论：腭化构音时舌背卷曲，舌根、舌面上抬与腭部形成后接触，使被检音的音征表现发生变化。