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基于CAN总线的星载软件测试系统设计 被引量:3
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作者 云颖 宋雷军 《上海航天》 2014年第5期65-68,共4页
对基于CAN总线的星载软件测试系统设计进行了研究。系统硬件包括PXI工控机和CAN高速板卡,应用LabVIEW编程模拟各下位机,实现了与星载软件的通信,具有下位机的状态检测、遥测数据分析、注数数据监测和计算机内存下卸等功能。实际应用表明... 对基于CAN总线的星载软件测试系统设计进行了研究。系统硬件包括PXI工控机和CAN高速板卡,应用LabVIEW编程模拟各下位机,实现了与星载软件的通信,具有下位机的状态检测、遥测数据分析、注数数据监测和计算机内存下卸等功能。实际应用表明:该基于CAN总线的星载软件测试系统满足第三方测试要求,运行稳定可靠。 展开更多
关键词 CAN总线 LABVIEW软件 软件测试 测试系统
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基于反馈约束的SRAM接口时序分析方法 被引量:2
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作者 左丽丽 刘国斌 +1 位作者 吴维林 陈云 《计算机测量与控制》 2020年第1期179-183,共5页
FPGA验证作为保证FPGA产品功能和可靠性的重要手段已经备受关注;对接口芯片时序的验证通常通过布局布线后仿真来进行,但布局布线后仿真需要耗费大量的时间;介绍了一种基于反馈的SRAM接口时序验证的方法,将FPGA输入输出连接成一个回路,... FPGA验证作为保证FPGA产品功能和可靠性的重要手段已经备受关注;对接口芯片时序的验证通常通过布局布线后仿真来进行,但布局布线后仿真需要耗费大量的时间;介绍了一种基于反馈的SRAM接口时序验证的方法,将FPGA输入输出连接成一个回路,验证结果表明,与动态仿真验证相比,该种静态时序验证方法可以较早、快速、精确定位FPGA接口时序设计存在的问题;缩短了验证时间,提高了验证效率、准确性和覆盖率。 展开更多
关键词 FPGA 静态时序分析 SRAM
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抗SEU动态刷新FPGA的仿真验证技术研究 被引量:2
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作者 祝周荣 姜丽梅 +1 位作者 刘国斌 刘芳汝 《数字技术与应用》 2018年第2期40-42,共3页
SRAM型FPGA在航天领域有着广泛的应用,配置刷新能提高SRAM型FPGA抗单粒子翻转的能力,目前宇航SRAM型FPGA的抗SEU动态刷新电路设计技术已经较为成熟,但是如何验证其功能正确性,没有给出特殊方法。本文提出四种消除单粒子效应造成的软故... SRAM型FPGA在航天领域有着广泛的应用,配置刷新能提高SRAM型FPGA抗单粒子翻转的能力,目前宇航SRAM型FPGA的抗SEU动态刷新电路设计技术已经较为成熟,但是如何验证其功能正确性,没有给出特殊方法。本文提出四种消除单粒子效应造成的软故障的抗SEU的FPGA设计方式,并重点针对周期性闭环配置刷新方式进行了仿真验证技术研究,找出验证该模式的关键验证要点,供验证人员作为指导。 展开更多
关键词 FPGA SEU 动态刷新 SRAM
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FLASH写溢出功能测试与问题分析
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作者 宁静 刘国斌 +2 位作者 祝周荣 刘伟 陈云 《数字技术与应用》 2018年第4期212-213,共2页
当使用FLASH来存储数据时,相同的地址不能重复写入数据。在没有擦除的情况下,重复对同一个地址进行写操作,会使得存储的数据内容出错,从而导致从FLASH中读出的数据出错。因此,需要对FLASH的写溢出功能进行测试。当FLASH中的所有好块被占... 当使用FLASH来存储数据时,相同的地址不能重复写入数据。在没有擦除的情况下,重复对同一个地址进行写操作,会使得存储的数据内容出错,从而导致从FLASH中读出的数据出错。因此,需要对FLASH的写溢出功能进行测试。当FLASH中的所有好块被占用,FPGA应能自动停止写入数据,等待下一轮的写操作。 展开更多
关键词 FLASH 自动写停 擦除操作 FPGA
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