集中式硬件冗余SISD计算机系统及其硬件自动重构

本文首先概述了实时应用中几类主要容错计算技术的使用方法及其效果,提出了一种基于 Flynn 分类法,且考虑指令流和数据流冗余性的广义 Flynn 分类法,该分类法尤其适用于容错计算机的分类。根据这种分类法,文章对其中一种经典类型:冗余单指令流和冗余单数据流系统(简称冗余 SISD 系统)的类型和集中式硬件冗余 SISD 系统的硬件自动重构技术进行了详细的讨论,并对若干设计方案的性能进行了分析比较。本文旨在总结和提高前人所做的工作,以便为进一步开展自动重构技术的研究打下基础,同时也为现场所进行的工程设计提供参考。

嵌入式计算机体系结构的需求分析及说明

本文讨论了嵌入式计算机体系结构中需求分析及需求说明过程的若干问题。

安全逻辑器件与CMOS B/T逻辑电路及其噪声容限

本文从容错计算技术的使用效果出发,将其分为故障诊断、资源冗余和故障安全三类技术。在分析传统故障安全技术的基础上,建立了一个统一的安全逻辑系统概念模型,并以此对该种系统进行了分类。作为一类扩展故障安全逻辑器件,文章重点介绍了三中取二值CMOS 逻辑电路,并参照CMOS 二值集成电路参量体系,结合实际测量结果提出了CMOS 三中取二值逻辑器件噪声容限的定义及其解法,从而为进一步完善该类新型器件的参量体系奠定了基础,同时还有利于其推广应用。

基于多值开关级代数的通路晶体管开关网络CAD算法

通路晶体管开关网络的设计长期以来缺乏严密的数学工具。文[1]提出用多值开关级代数来分析与设计通路晶体管开关网络,被证明是行之有效的方法。本文在文[1]的基础上进一步提出基于多值开关级代数的通路晶体管开关网络的CAD 算法。这些算法包括由通路晶体管开关网络的电路结构导出其开关级表达式的算法,由开关级表达式导出其等价的布尔表达式的算法以及由布尔表达式导出其等价的开关级表达式的算法。这些算法可以用于通路晶体管开关网络的计算机辅助设计与分析。

一类基于比较原理的安全冗余结构及FSC方案

本文提出了一类基于比较原理的安全冗余结构:N模比较混合冗余(NMHRC)结构,并设计了一种用通用二值逻辑器件构成的两输入故障安全比较器(FSC).该FSC可以和通用计算模块(CM)在系统级构成安全NMHRC结构.

CMOS电路开关级测试生成的一种新算法

本文提出了一种新的CMOS电路开关级测试生成算法,该算法以Hayes模型为基础,以开关级代数为工具,充分利用CMOS电路自身的特点,生成CMOS电路的完全测试集,这种算法较之于已有的算法简单而有效,检测CMOS电路的常开型故障需一对测试码,本文给出了一种简单的求一对稳健测试码的方法,基于这种算法,我们开发了一个测试自动生成软件。

多值开关级代数结点方程组及其求解

多值开关级代数可以在晶体管开关级为MOS电路建模,井已在分析与设计通路晶体管开关网络中取得了很好的效果。本文对多位开关级代数作了进一步研究,取得了若干新结果:(1)提出以(A#B)*G的形式来描述MOS管的双向开关特性;(2)提出以#范式及结点方程组来描述一个复杂的MOS开关网络的特性;(3)提出吸收定理,以简化并求解网络的结点方程组。