一种高生存性的光接入网结构

提出了一种新的双环加星型环的高生存性光接入网拓扑结构,并和现行各种光接入网拓扑结构的生存性进行了定量比较。在多故障情况下,具有比现行各种光接入网结构更高的生存率。随着故障数目的增加,其网络生存率均值下降缓慢,当故障数为6时,依然可以保持99.997%的高生存率均值,大大好于现行光接入网结构,说明该接入网结构能更好地满足用户对下一代光接入网生存性的要求。