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硅异质结和赝异质结双极器件研究进展
1
作者
郑茳
许居衍
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1995年第10期144-147,共4页
本文作者结合自己的工作,综述了硅异质结和赝异质结双极器件的研究进展,指出GeSiHBT将成为双极结构的主流技术,硅赝异质结器件也将在低温应用等方面显示出优势。
关键词
硅
异质结
赝异质结
双极器件
双极晶体管
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职称材料
题名
硅异质结和赝异质结双极器件研究进展
1
作者
郑茳
许居衍
机构
东南大学-华晶无锡微电子应用研究所
出处
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1995年第10期144-147,共4页
基金
国家自然科学基金
文摘
本文作者结合自己的工作,综述了硅异质结和赝异质结双极器件的研究进展,指出GeSiHBT将成为双极结构的主流技术,硅赝异质结器件也将在低温应用等方面显示出优势。
关键词
硅
异质结
赝异质结
双极器件
双极晶体管
Keywords
Silicon
Heterojunction
Pseudo-heterojunction
Bipolar device
分类号
TN322.8 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
硅异质结和赝异质结双极器件研究进展
郑茳
许居衍
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1995
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