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题名一种适用于改进P/E循环性能NAND闪存设计方法
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作者
何勇翔
朱家骅
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机构
东芯半导体股份有限公司
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出处
《中国集成电路》
2021年第8期42-47,共6页
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文摘
随着NAND闪存工艺尺寸的缩小,为了确保闪存阈值电压分布在相对狭窄的区间,通常使用ISPP/ISPE(步进式编写操作/步进式擦除操作)对闪存操作。但是随着P/E循环的增加,相应的操作时间也随之改变,会极大的影响闪存的性能。因此本设计对传统ISPP/ISPE进行改良,通过使用额外的寄存器,针对P/E循环次数的不同阶段,调整ISPP/ISPE操作参数,使系统在不同的P/E循环次数下,仍能维持稳定的擦写性能。
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关键词
步进式编写操作/步进式擦除操作
NAND闪存
寄存器
偏置条件
擦写循环
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Keywords
ISPP/ISPE
NAND Flash
register
bias condition
P/E cycling
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分类号
TP333
[自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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