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MOS器件二次击穿行为的电路级宏模块建模
被引量:
1
1
作者
崔强
韩雁
+2 位作者
董树荣
刘俊杰
斯瑞珺
《传感技术学报》
CAS
CSCD
北大核心
2008年第2期361-364,共4页
采用一种利用TCAD仿真提取MOS器件在静电放电现象瞬间大电流情况下的电学参数,对MOS器件二次击穿行为进行电路级宏模块建模。MOS器件是一种重要的静电放电防护器件,被广泛地应用为集成电路输入输出口的静电保护器件。用TCAD仿真工具对MO...
采用一种利用TCAD仿真提取MOS器件在静电放电现象瞬间大电流情况下的电学参数,对MOS器件二次击穿行为进行电路级宏模块建模。MOS器件是一种重要的静电放电防护器件,被广泛地应用为集成电路输入输出口的静电保护器件。用TCAD仿真工具对MOS器件的二次击穿进行宏模块建模,该模型能够正确反映MOS器件二次击穿的深刻机理,具有良好的精确性和收敛性,这对在电路级以及系统级层面上仿真静电放电防护网络的抗静电冲击能力有重要意义。
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关键词
MOS
二次击穿
电路级
宏模块
建模
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职称材料
题名
MOS器件二次击穿行为的电路级宏模块建模
被引量:
1
1
作者
崔强
韩雁
董树荣
刘俊杰
斯瑞珺
机构
浙江
大学
微电子与光电子研究所
中佛罗里达大学电机系
出处
《传感技术学报》
CAS
CSCD
北大核心
2008年第2期361-364,共4页
基金
浙江省新苗人才计划资助(“XinMiao Project of Science and Technology Department of Zhejiang Province”)
浙江省自然科学基金资助项目(Zhejiang Province Natural Science Foundation)(Y107055)
文摘
采用一种利用TCAD仿真提取MOS器件在静电放电现象瞬间大电流情况下的电学参数,对MOS器件二次击穿行为进行电路级宏模块建模。MOS器件是一种重要的静电放电防护器件,被广泛地应用为集成电路输入输出口的静电保护器件。用TCAD仿真工具对MOS器件的二次击穿进行宏模块建模,该模型能够正确反映MOS器件二次击穿的深刻机理,具有良好的精确性和收敛性,这对在电路级以及系统级层面上仿真静电放电防护网络的抗静电冲击能力有重要意义。
关键词
MOS
二次击穿
电路级
宏模块
建模
Keywords
MOS
second breakdown
circuit-level
macro block
modeling
分类号
TN45 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
MOS器件二次击穿行为的电路级宏模块建模
崔强
韩雁
董树荣
刘俊杰
斯瑞珺
《传感技术学报》
CAS
CSCD
北大核心
2008
1
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