基于多应力加速退化的机载电子部件可靠性试验方法

可靠性试验是获取基础安全性数据的重要来源之一。考虑机载设备的实际工作环境,多种应力共同作用导致产品失效且存在复杂的相互作用,本文提出一种基于多应力广义耦合加速退化的可靠性试验方法,可以直接获取用于适航符合性验证的基础安全性数据。首先,建立考虑多应力广义耦合的非线性Wiener加速退化模型,结合相关性分析确定应力耦合形式;其次,提出基于多应力加速退化模型的最大似然估计与参数优化方法,解决多参数估计难题;最后,以某机载LED芯片为对象开展三应力加速退化试验,实现寿命评估。结果表明,相比于传统多应力加速模型,本文所提方法更贴近实际工况,误差控制在1%以内,寿命评估精度较高,可以有效解决基础数据缺失和不准确的现实适航问题。