目的 应用石膏模型牙槽嵴中心点(center of the alveolar crest,CAC)测量法、头颅正位片Ricketts测量法和宾夕法尼亚大学锥形束CT(University of Pennsylvania cone beam CT,Penn CBCT)测量法对上下颌宽度关系进行分析诊断及一致性评价...目的 应用石膏模型牙槽嵴中心点(center of the alveolar crest,CAC)测量法、头颅正位片Ricketts测量法和宾夕法尼亚大学锥形束CT(University of Pennsylvania cone beam CT,Penn CBCT)测量法对上下颌宽度关系进行分析诊断及一致性评价。方法 选择2017—2021年于中国医科大学附属口腔医院拟行正畸治疗的恒牙期初诊患者93例,应用石膏模型CAC测量法、头颅正位片Ricketts测量法和Penn CBCT测量法分别测量患者上下颌宽度并得出宽度差值,再与理论上的理想参考值比较得出宽度不调量。宽度不调量> 0诊断为上颌宽度不足,≤0诊断为无上颌宽度不足,并对3种方法的测量结果进行一致性评价。结果 在上下颌宽度关系分析诊断方面,3种方法的一致性中等(Kappa值为0.445),石膏模型CAC测量法和Penn CBCT测量法的一致性较高(Kappa值为0.710),头颅正位片Ricketts测量法和Penn CBCT测量法的一致性一般(Kappa值为0.353),石膏模型CAC测量法和头颅正位片Ricketts测量法的一致性一般(Kappa值为0.289)。结论 对于无CBCT资料的患者,应用石膏模型CAC测量法进行上下颌宽度关系的分析诊断具有较高的准确性,且临床中不建议单独使用头颅正位片进行上下颌宽度关系的分析。展开更多
Van der Woude综合征(Van der Woude syndrome,VWS)是一种罕见的常染色体显性遗传发育障碍性疾病,伴有先天性唇腭裂、下唇窝或下唇瘘、牙发育不全、牙缺失、牛牙症等颌面部症状。文章通过文献回顾,归纳整理VWS的临床表现、分类、分子学...Van der Woude综合征(Van der Woude syndrome,VWS)是一种罕见的常染色体显性遗传发育障碍性疾病,伴有先天性唇腭裂、下唇窝或下唇瘘、牙发育不全、牙缺失、牛牙症等颌面部症状。文章通过文献回顾,归纳整理VWS的临床表现、分类、分子学基础、临床诊断、临床治疗和预防方案,以期为临床诊断治疗VWS提供依据。展开更多
文摘Van der Woude综合征(Van der Woude syndrome,VWS)是一种罕见的常染色体显性遗传发育障碍性疾病,伴有先天性唇腭裂、下唇窝或下唇瘘、牙发育不全、牙缺失、牛牙症等颌面部症状。文章通过文献回顾,归纳整理VWS的临床表现、分类、分子学基础、临床诊断、临床治疗和预防方案,以期为临床诊断治疗VWS提供依据。
