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双极模拟集成电路版图验证程序的开发及应用
1
作者
郑重
唐颖炯
赵文遐
《微电子技术》
1998年第2期34-36,共3页
在引进CADENCE软件的基础上,开发适用于双极模拟集成电路的版图验证程序。对版图进行了全面的几何设计规则的检查(DRC),并将版图和线路图进行比较(LVS),以确保版图设计的正确性。
关键词
双极
模拟集成电路
版图
验证程序
提取
识别层
下载PDF
职称材料
发射极电流集边效应理论的SPICE模拟验证
被引量:
6
2
作者
石林初
杜行尧
+2 位作者
吕文生
吴毅
吴敏
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2000年第11期1139-1144,共6页
发射极电流集边效应是由晶体管基极电阻的自偏压引起的 ,描述该效应的微分方程早已建立 ,这里设计了一种用 SPICE验证精确解 /近似解的新方法 .结果表明 :近似解是在 V( x) VT 的前提条件下求得的 ,仅在弱注入区和中等注入区适用 ,不...
发射极电流集边效应是由晶体管基极电阻的自偏压引起的 ,描述该效应的微分方程早已建立 ,这里设计了一种用 SPICE验证精确解 /近似解的新方法 .结果表明 :近似解是在 V( x) VT 的前提条件下求得的 ,仅在弱注入区和中等注入区适用 ,不能给出在强注入区和极强注入区的归一化电位和电流密度的分布函数 ;相反 ,基于精确解的理论却能给出从弱注入区到极强注入区的归一化电位和电流密度的分布函数 ,且与用 SPICE模拟得到的结果吻合 .结论是 :从整体来看 ,精确解的理论比近似解的理论描述该效应要稍好一些 ,因为前者的适用范围比后者宽 .应当强调指出 。
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关键词
发射极电流
集边效应
SPICE验证
晶体管
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职称材料
12位模/数转换器AD574在测试仪中的应用
被引量:
12
3
作者
王鹏飞
崔文兵
陈钧
《微电子技术》
2000年第6期58-62,共5页
本文介绍了集成电路测试仪中AD574的使用方法,该测试仪可精确测 量1mV的电压,以此方法可省去程序中很多计算过程。
关键词
模/数转换器
测试仪
单片机
AD574
集成电路
下载PDF
职称材料
模拟集成电路中的保护电路分析
被引量:
2
4
作者
陈惠新
《微电子技术》
1999年第5期32-37,共6页
本文主要介绍了模拟集成电路中各种保护电路的工作原理,并对常见集成电路中的保护电路作了详细分析。
关键词
集成电路
保护电路
功率
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职称材料
题名
双极模拟集成电路版图验证程序的开发及应用
1
作者
郑重
唐颖炯
赵文遐
机构
中国华晶电子集团公司双极设计所
出处
《微电子技术》
1998年第2期34-36,共3页
文摘
在引进CADENCE软件的基础上,开发适用于双极模拟集成电路的版图验证程序。对版图进行了全面的几何设计规则的检查(DRC),并将版图和线路图进行比较(LVS),以确保版图设计的正确性。
关键词
双极
模拟集成电路
版图
验证程序
提取
识别层
Keywords
Bipolar
Analogue IC
Layout
Verification program
Extract
Identification Layer
分类号
TN4 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
发射极电流集边效应理论的SPICE模拟验证
被引量:
6
2
作者
石林初
杜行尧
吕文生
吴毅
吴敏
机构
中国华晶电子集团公司双极设计所
出处
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2000年第11期1139-1144,共6页
基金
国家自然科学基金资助项目 !(批准号 :697760 2 4 )&&
文摘
发射极电流集边效应是由晶体管基极电阻的自偏压引起的 ,描述该效应的微分方程早已建立 ,这里设计了一种用 SPICE验证精确解 /近似解的新方法 .结果表明 :近似解是在 V( x) VT 的前提条件下求得的 ,仅在弱注入区和中等注入区适用 ,不能给出在强注入区和极强注入区的归一化电位和电流密度的分布函数 ;相反 ,基于精确解的理论却能给出从弱注入区到极强注入区的归一化电位和电流密度的分布函数 ,且与用 SPICE模拟得到的结果吻合 .结论是 :从整体来看 ,精确解的理论比近似解的理论描述该效应要稍好一些 ,因为前者的适用范围比后者宽 .应当强调指出 。
关键词
发射极电流
集边效应
SPICE验证
晶体管
Keywords
emitter current
edge\|crowding\|effect
precise solution
SPICE
verification
分类号
TN32 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
12位模/数转换器AD574在测试仪中的应用
被引量:
12
3
作者
王鹏飞
崔文兵
陈钧
机构
中国华晶电子集团公司双极设计所
出处
《微电子技术》
2000年第6期58-62,共5页
基金
.NULL.
文摘
本文介绍了集成电路测试仪中AD574的使用方法,该测试仪可精确测 量1mV的电压,以此方法可省去程序中很多计算过程。
关键词
模/数转换器
测试仪
单片机
AD574
集成电路
Keywords
A/D convert
Test system
Monolithic computer
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
模拟集成电路中的保护电路分析
被引量:
2
4
作者
陈惠新
机构
中国华晶电子集团公司双极设计所
出处
《微电子技术》
1999年第5期32-37,共6页
文摘
本文主要介绍了模拟集成电路中各种保护电路的工作原理,并对常见集成电路中的保护电路作了详细分析。
关键词
集成电路
保护电路
功率
Keywords
Integrated circuit
Protecting circuit
Power
分类号
TN4 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
双极模拟集成电路版图验证程序的开发及应用
郑重
唐颖炯
赵文遐
《微电子技术》
1998
0
下载PDF
职称材料
2
发射极电流集边效应理论的SPICE模拟验证
石林初
杜行尧
吕文生
吴毅
吴敏
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2000
6
下载PDF
职称材料
3
12位模/数转换器AD574在测试仪中的应用
王鹏飞
崔文兵
陈钧
《微电子技术》
2000
12
下载PDF
职称材料
4
模拟集成电路中的保护电路分析
陈惠新
《微电子技术》
1999
2
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
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参考文献
引证文献
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