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题名高浓度硼扩散硅片CMP工艺研究
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作者
谭刚
吴嘉丽
唐海林
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机构
中国工程物理研究院电子工程研究所传感器研究中心
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出处
《仪表技术与传感器》
CSCD
北大核心
2009年第B11期196-198,共3页
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文摘
"叉指式微加速度计"的研制,需要使用高浓度硼扩散硅片,而硅片经过高浓度硼扩散后,硅片双面生长了一层硼硅玻璃,很难将其去除,不能在高浓度硼扩散层上制作更好的"叉指式微加速度计"结构。针对上述问题,在CMP研磨抛光工艺中,针对上述问题,在CMP研磨抛光工艺中,选择合适的研磨料和抛光料以及研磨盘和抛光盘,通过对浆料浓度、流量大小、抛光温度进行改进,优化研磨抛光工艺流程及工艺参数,以完成高浓度硼扩散硅片的表面平坦化。
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关键词
硼扩散片
化学机械抛光
平坦化
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Keywords
boron-diffusion silicon
CMP
planarization
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分类号
TN405.2
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名低压化学气相淀积设备使用与维护技术
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作者
谭刚
吴嘉丽
李仁锋
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机构
中国工程物理研究院电子工程研究所传感器研究中心
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出处
《设备管理与维修》
2005年第S1期189-192,共4页
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文摘
LPCVD 是大规模集成电路(LSI)和超大规模集成电路(VLSI)以及半导体光电器件工艺领域里的主要工艺之一。PCVD 技术可以提高淀积薄膜的质量,使膜层具有均匀性好、缺陷密度低、台阶覆盖性好等优点,成为制备 Si_3N_4薄膜的主要方法。热壁 LPCVD 设备使用过程中出现薄膜的淀积速率、薄膜的均匀性、片内均匀性、片间均匀性不理想等问题,提出解决办法。
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关键词
淀积
POLY
硅片
石英舟
淀积速率
LPCVD
设备使用
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分类号
TN304.05
[电子电信—物理电子学]
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