分形表面粗糙度与光散射关系的研究

用Weielstxass－Mandelbrot函数产生了一维的分形表面，在几何光学适用的范围内研究了这些表面的光散射特性．发现分形线数D越大，通常被认为越粗糙的表面，其光散射的角分布反而比D小的表面更集中．文章最后解释了这种现象的成因．

Pd沉积在聚乙烯醇缩甲醛衬底上分形结构研究

用透射电子显微镜（TEM）研究了衬底温度和沉积速率对气相沉积在聚乙烯醇缩甲醛（PolyvinylFormale,PVF）衬底上的Pd膜显微结构的影响，当衬底温度由高到低改变时，Pd膜结构由紧密岛向分形渐变，在233－253K时Pd股具有分形结构，用Sandbox方法测量了其分维数．在相同温度的衬底上，沉积速率不同时，其分形的图样不同．研究表明，上述分形结构是稳定的．利用有边缘扩散的DLA模型讨论了这些实验结果．

薄膜表面的分形特征

在计算机上用随机数相加的方法产生了一个分形表面，对这个表面的模拟测量表明，z方向分辨率变化对分形维数测量结果影响很小，x、y方向分辨率降低时会导致测量结果统计误差增大用扫描隧道显微镜（STM）测量了沉积在三种不同基底上的Au膜的分形维数．测得Au／陶瓷的分形维数D＝2.15，Au／光学玻璃的分形维数D＝2.06．Au／载玻片上各点的分形维数较不一致．同时讨论了多图方法中各单图曲线之间不衔接的原因．

Au在低温PVF衬底上的分形生长

用透射电子显微镜研究了Au沉积在不同温度的聚乙烯醇缩甲醛（PolyvinylFormal,PVF）衬底上的显微结构．当衬底温度由高到低改变时，Au膜结构由紧密岛向分形渐变，在213～253K时生长的Au膜具有分形特征，用Sandbex方法测量了分维数．Au膜分维数随生长温度提高及膜厚增加而增大．在Au膜分形结构周围形成近似圆形空白区，这一现象说明岛（或团簇）具有一定的迁移率向大岛或分枝结构聚集．利用有边缘扩散的DLA模型及CCA模型讨论了实验结果。

同步辐射软X射线源用于软X射线探测元件定标

用于惯性约束聚变诊断的软Ｘ射线探测元器件的能量响应曲线定标，利用北京同步辐射装置（ＢＳＲＦ３Ｂ１束线，束流为２０—８０ｍＡ，光子能量为２５０—１０００ｅＶ，通量约为１０１２ｐｈｏｔｏｎ／ｓ·ｍｍ２·ｍｒ２·０１％ｂａｎｄｗｉｄｔｈ）及反射率计靶室，采用ＡＸＵＶ１００硅光二极管作源强绝对监测．对Ｘ射线二极管（ＸＲＤ）及金刚石光电导探测器等五种探测元件进行能量响应曲线定标，获得初步实验结果。

扩散系数局域变化对生长亚单层薄膜的影响

将Ａｕ沉积在ＰＶＦ有机膜基底上生成亚单层薄膜，发现了不同于金属／单晶组合的亚单层表面形貌，即某些表面区域形成特别大的团簇，而团簇周围有一近似圆形空带．推测这是由于表面局部区域扩散系数发生变化引起的，用改进后包括边缘扩散的ＤＤＡ模型证明了这一推测．模拟的结果还表明在ＰＶＦ膜基底上。