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题名CMOS集成电路与栅氧有关的突然失效
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作者
王恩德
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机构
中国微电子中心
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出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
1991年第2期27-29,共3页
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文摘
本文探讨了CMOS晶体管在静态偏压-温度老化下产生的突然失效。在试验时出现的失效模式是栅和衬底之间发生的短路,以及栅开路。随后失效分析揭示了铝与栅氧之间互相作用是失效机理。最后指出P^+区的缺陷是引起所观察到的失效现象的原因。
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关键词
CMOS
集成电路
栅氧
失效
可靠性
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分类号
TN432.06
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名针炙治疗呃逆35例临床疗效观察
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作者
黄健
王群
宛树宽
王景波
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机构
黑龙江省第二医院
中国微电子中心
黑龙江省祖国医药研究院
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出处
《哈尔滨医药》
1996年第3期52-53,共2页
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文摘
呃逆是以气逆上冲,喉间呃呃连声,令人不能自主为主证。如偶然发作者,大都轻微而自愈;如持续不断,则须通过治疗始能渐平。本病多因饮食不节,肝气郁滞,胃中有寒,以致胃失和降,胃气上逆而致。
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关键词
针炙疗法
呃逆
中医药疗法
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分类号
R256.31
[医药卫生—中医内科学]
R246.1
[医药卫生—针灸推拿学]
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