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线阵CCD转移效率及响应度非均匀性测试装置研究
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作者 万光毅 龚晓斌 +3 位作者 罗镇伟 苏昌林 胡章鑫 景峰 《光学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1994年第7期736-743,共8页
介绍了准确测量线阵ＣＣＤ转移效率及响应度非均匀性的实验方法、装置及测试结果．采用小光点注入法，在自动化装置上实现数据采集，用移动寻峰和直线拟合法处理数据．文章还分析了影响测量结果的诸多因素．
关键词 转移效率 光响应度 电荷耦合器件
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