某负基准电路输出异常原因分析

某批负基准电路芯片产品,筛选及检验合格,但在用户使用时,部分出现输出异常现象。通过试验、仿真等手段对该异常现象进行了分析,发现是由于工艺参数波动造成负基准电路芯片的稳定性差异。工艺参数偏差大的芯片稳定性相对较低甚至临界,带容性负载和抗干扰能力下降,接入组件后容易出现输出振荡。论文详细介绍了分析的过程,阐述了失效机理,并对工艺控制、筛选试验提出了解决措施。分析结论对后续类似产品的研发生产具有一定借鉴意义。

一种超高速宽带运算放大器的设计

介绍了一种采用高速双极工艺研制的超高速宽带运算放大器电路。运算放大器内部采用高速电流反馈结构进行信号传输和放大,通过带宽提升、电压/电流信号转换以及稳定性补偿等设计技术,获得了要求的速度和带宽。研究了高速宽带运放性能的影响因素,并结合高速双极工艺进行了电路仿真设计和流片制作。测试结果表明:在±5 V电源电压下,运算放大器的电源电流≤6 mA,-3 dB带宽≥500 MHz,转换速率≥1 500 V/μs。