高含硫气藏固态硫颗粒微观运移沉积机理

目前大多数硫沉积研究停留在宏观实验阶段,主要研究固态硫对储层的伤害,而固态硫颗粒在微观孔隙中的运移沉积机理尚未见报道。文中通过ICEM软件构建孔喉简化模型,运用Fluent的离散相DPM模型,模拟分析固态硫颗粒在孔喉中的微观运移沉积机理。模拟结果表明:固态硫颗粒在孔隙中的运移过程分为进入孔喉、通过孔喉、颗粒沉积3个阶段;运移过程中硫沉积率与气体中硫颗粒直径、孔喉直径、硫颗粒质量流量、压差等因素有关;以直径0.5μm的固态硫颗粒为例,当孔隙直径为10μm、喉道直径为5μm时,硫颗粒沉积达到稳定,硫沉积率为4.42%。研究成果能为高含硫气藏硫沉积机理研究及防治提供依据。