附加约束条件的DLT用于非量测数码相机的检校

从直接线性变换DLT的基本原理出发,分析了数码相机检校的DLT一般方法存在的缺陷,提出了附加约束条件的DLT相机检校方法的数学模型,并通过实验验证了其正确性和可行性。