MMIC在片测试探头的研究与设计

微波单片集成电路 (MMIC)在片测试技术是应用于 MMIC和高速集成电路研究、生产的新型测试技术。 MMIC在片测试探头是 MMIC在片测试系统的关键部件。本文研究并设计了介质基片共面波导 (CPW)探头 ,测试并分析了探头性能。该探头在 2～ 18GHz范围内插入损耗小于 1.5 d B,回波损耗大于 16 d

LFMCW雷达的调频非线性对距离分辨率的影响

本文分析了线性调频连续波雷达的调频非线性对高距离分辨率的影响，详细描述了非线性频偏在时域、频域的作用方式，计算机仿真与实验结果验证了分析的合理性。