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电导数测试用于大功率半导体激光器的快速筛选
被引量:
10
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作者
李红岩
石家纬
+5 位作者
金恩顺
齐丽云
李正庭
高鼎三
肖建伟
刘宗顺
《中国激光》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1999年第6期507-510,共4页
对氧化物条型GaAs/GaAlAs大功率量子阱激光器的电导数曲线及其参数与器件可靠性之间的相关性进行了讨论,指出m,h,b参数可以评价器件质量和可靠性。实验结果表明电导数测试是大功率半导体激光器快速筛选的新方法。
关键词
半导体激光器
可靠性
筛选
测试
原文传递
题名
电导数测试用于大功率半导体激光器的快速筛选
被引量:
10
1
作者
李红岩
石家纬
金恩顺
齐丽云
李正庭
高鼎三
肖建伟
刘宗顺
机构
吉林大学
电子
工程系
集成
光电子
国家
重点
实验室
吉林大学
实验
区
中国科学院半导体所集成光电子国家重点实验室科学院半导体所实验区
出处
《中国激光》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1999年第6期507-510,共4页
基金
集成光电子国家重点联合实验室中国科学院半导体所实验区和吉林省科委资助项目
文摘
对氧化物条型GaAs/GaAlAs大功率量子阱激光器的电导数曲线及其参数与器件可靠性之间的相关性进行了讨论,指出m,h,b参数可以评价器件质量和可靠性。实验结果表明电导数测试是大功率半导体激光器快速筛选的新方法。
关键词
半导体激光器
可靠性
筛选
测试
Keywords
semiconductor laser, reliability, screen
分类号
TN248.406 [电子电信—物理电子学]
原文传递
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
电导数测试用于大功率半导体激光器的快速筛选
李红岩
石家纬
金恩顺
齐丽云
李正庭
高鼎三
肖建伟
刘宗顺
《中国激光》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1999
10
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