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一种新的散射电子空间输运坐标转换方法
被引量:
6
1
作者
任黎明
陈宝钦
+1 位作者
谭震宇
顾文琪
《光电工程》
CAS
CSCD
北大核心
2002年第3期24-27,共4页
提出一种新的随动坐标系矢量转换方法,给出用于转换散射电子空间输运坐标的矩阵方程。 该方程具有递推的形式,计算方便,并且只涉及乘法运算,不会引起计算上的困难,将其用于PMMA-Si中电子散射过程的Monte Carlo模拟,结果表明可以有效节...
提出一种新的随动坐标系矢量转换方法,给出用于转换散射电子空间输运坐标的矩阵方程。 该方程具有递推的形式,计算方便,并且只涉及乘法运算,不会引起计算上的困难,将其用于PMMA-Si中电子散射过程的Monte Carlo模拟,结果表明可以有效节约机时,提高模拟效率,明显优于习惯上使用的静态坐标系方程。
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关键词
电子束曝光
蒙特卡罗法
坐标转换
下载PDF
职称材料
Monte Carlo方法模拟低能电子束曝光电子散射轨迹
被引量:
8
2
作者
任黎明
陈宝钦
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2001年第12期1519-1524,共6页
建立了一个适用于描述低能电子散射的物理模型 ,利用 Monte Carlo方法对低能电子在多元多层介质中的散射过程进行模拟 .低能电子弹性散射采用较严格的 Mott截面描述 ,为了节约机时 ,利用查表与线性插值方法获得 Mott截面值 ;低能电子非...
建立了一个适用于描述低能电子散射的物理模型 ,利用 Monte Carlo方法对低能电子在多元多层介质中的散射过程进行模拟 .低能电子弹性散射采用较严格的 Mott截面描述 ,为了节约机时 ,利用查表与线性插值方法获得 Mott截面值 ;低能电子非弹性散射能量损失采用 Joy修正的 Bethe公式计算 ,并对其加以改进 ,引入多元介质平均电离电位、平均原子序数、平均原子量概念 ,利用线性插值方法给出光刻胶 PMMA对应的 k值 .对电子穿越多层介质提出一种新的边界处理方法 .在此基础上运用 Monte Carlo方法模拟高斯分布低能电子束在 PMMA-衬底中的复杂散射过程 .模拟结果表明低能电子束曝光具有曝光效率高、邻近效应低、对衬底损伤轻等优点 ,与 L ee、Peterson等人通过实验得出的结论相符 .
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关键词
电子束曝光
电子散射
蒙特卡洛法
半导体工艺
下载PDF
职称材料
电子束曝光高斯分布束斑的Monte Carlo模拟
被引量:
9
3
作者
任黎明
陈宝钦
《微细加工技术》
2001年第3期60-63,共4页
经过严格论证 ,提出一种计算简便 ,易于软件实现的电子束束斑直径定义方法 ,在此基础上运用MonteCarlo方法对高斯分布电子束斑进行模拟 ,给出模拟电子数分别为50 0 0、2 0 0 0 0、50 0 0 0、1 0 0 0 0 0时的模拟结果。
关键词
电子束曝光
蒙特卡洛法
高斯分布束斑
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职称材料
电子束曝光的Monte Carlo模拟
被引量:
3
4
作者
任黎明
陈宝钦
《微细加工技术》
2002年第1期1-5,17,共6页
建立一个更为严格地描述电子散射过程的物理模型 ,运用MonteCarlo方法模拟高斯分布电子束在靶体PMMA -衬底中的散射过程 ,研究不同曝光条件对沉积能密度的影响 ,获得的沉积能分布规律是 :有利于降低邻近效应的高束能、薄胶层 。
关键词
电子束曝光
能量沉积
蒙特卡洛模拟
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职称材料
题名
一种新的散射电子空间输运坐标转换方法
被引量:
6
1
作者
任黎明
陈宝钦
谭震宇
顾文琪
机构
中国科学院微电子中心微光刻实验室
山东大学电气工程
学院
中国科学院
微电子
中心
电工研究所
出处
《光电工程》
CAS
CSCD
北大核心
2002年第3期24-27,共4页
基金
国家九五科技攻关项目(KT0305-G9720 97-762-03-02)
国家重点基础研究项目(973计划)(G2000036504)
文摘
提出一种新的随动坐标系矢量转换方法,给出用于转换散射电子空间输运坐标的矩阵方程。 该方程具有递推的形式,计算方便,并且只涉及乘法运算,不会引起计算上的困难,将其用于PMMA-Si中电子散射过程的Monte Carlo模拟,结果表明可以有效节约机时,提高模拟效率,明显优于习惯上使用的静态坐标系方程。
关键词
电子束曝光
蒙特卡罗法
坐标转换
Keywords
Electron-beam exposure
Monte Carlo method
Coordinate transformation
分类号
TN305.7 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
Monte Carlo方法模拟低能电子束曝光电子散射轨迹
被引量:
8
2
作者
任黎明
陈宝钦
机构
中国科学院微电子中心微光刻实验室
出处
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2001年第12期1519-1524,共6页
文摘
建立了一个适用于描述低能电子散射的物理模型 ,利用 Monte Carlo方法对低能电子在多元多层介质中的散射过程进行模拟 .低能电子弹性散射采用较严格的 Mott截面描述 ,为了节约机时 ,利用查表与线性插值方法获得 Mott截面值 ;低能电子非弹性散射能量损失采用 Joy修正的 Bethe公式计算 ,并对其加以改进 ,引入多元介质平均电离电位、平均原子序数、平均原子量概念 ,利用线性插值方法给出光刻胶 PMMA对应的 k值 .对电子穿越多层介质提出一种新的边界处理方法 .在此基础上运用 Monte Carlo方法模拟高斯分布低能电子束在 PMMA-衬底中的复杂散射过程 .模拟结果表明低能电子束曝光具有曝光效率高、邻近效应低、对衬底损伤轻等优点 ,与 L ee、Peterson等人通过实验得出的结论相符 .
关键词
电子束曝光
电子散射
蒙特卡洛法
半导体工艺
Keywords
electron beam lithography
Monte Carlo method
low energy electron scattering
分类号
TN305.7 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
电子束曝光高斯分布束斑的Monte Carlo模拟
被引量:
9
3
作者
任黎明
陈宝钦
机构
中国科学院微电子中心微光刻实验室
出处
《微细加工技术》
2001年第3期60-63,共4页
文摘
经过严格论证 ,提出一种计算简便 ,易于软件实现的电子束束斑直径定义方法 ,在此基础上运用MonteCarlo方法对高斯分布电子束斑进行模拟 ,给出模拟电子数分别为50 0 0、2 0 0 0 0、50 0 0 0、1 0 0 0 0 0时的模拟结果。
关键词
电子束曝光
蒙特卡洛法
高斯分布束斑
Keywords
electron beam lithography
Monte Carlo method
Electron beam spot
Gauss-distribution
分类号
TN305.7 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
电子束曝光的Monte Carlo模拟
被引量:
3
4
作者
任黎明
陈宝钦
机构
中国科学院微电子中心微光刻实验室
出处
《微细加工技术》
2002年第1期1-5,17,共6页
基金
"九五"国家科技攻关项目(KT0 30 5 -G972 0
97- 76 2 - 0 3- 0 2)
国家重点基础研究项目 (973计划 ) (G2 0 0 0 0 36 5 0 4 )
文摘
建立一个更为严格地描述电子散射过程的物理模型 ,运用MonteCarlo方法模拟高斯分布电子束在靶体PMMA -衬底中的散射过程 ,研究不同曝光条件对沉积能密度的影响 ,获得的沉积能分布规律是 :有利于降低邻近效应的高束能、薄胶层 。
关键词
电子束曝光
能量沉积
蒙特卡洛模拟
Keywords
electron beam lithography
Monte Carlo method, scattering, energy dissipation
分类号
TN305.7 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
一种新的散射电子空间输运坐标转换方法
任黎明
陈宝钦
谭震宇
顾文琪
《光电工程》
CAS
CSCD
北大核心
2002
6
下载PDF
职称材料
2
Monte Carlo方法模拟低能电子束曝光电子散射轨迹
任黎明
陈宝钦
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2001
8
下载PDF
职称材料
3
电子束曝光高斯分布束斑的Monte Carlo模拟
任黎明
陈宝钦
《微细加工技术》
2001
9
下载PDF
职称材料
4
电子束曝光的Monte Carlo模拟
任黎明
陈宝钦
《微细加工技术》
2002
3
下载PDF
职称材料
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