采用透射电子显微镜和正电子湮灭技术研究了低周疲劳过程中快凝Al Fe V Si Nd合金微结构的变化 ,发现 :经高载荷循环后晶内固溶元素析出产生偏聚体 ,且随循环次数的增加 ,偏聚体长大 ;当循环次数达到 15 0 0次后 ,随循环次数的继续增加 ...采用透射电子显微镜和正电子湮灭技术研究了低周疲劳过程中快凝Al Fe V Si Nd合金微结构的变化 ,发现 :经高载荷循环后晶内固溶元素析出产生偏聚体 ,且随循环次数的增加 ,偏聚体长大 ;当循环次数达到 15 0 0次后 ,随循环次数的继续增加 ,大于临界尺寸的偏聚体长大而小于临界尺寸的偏聚体重新溶解·展开更多
文摘采用透射电子显微镜和正电子湮灭技术研究了低周疲劳过程中快凝Al Fe V Si Nd合金微结构的变化 ,发现 :经高载荷循环后晶内固溶元素析出产生偏聚体 ,且随循环次数的增加 ,偏聚体长大 ;当循环次数达到 15 0 0次后 ,随循环次数的继续增加 ,大于临界尺寸的偏聚体长大而小于临界尺寸的偏聚体重新溶解·
