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硅集成电路老炼时间确定和寿命预计
被引量:
6
1
作者
宁永成
《航天器环境工程》
2010年第4期508-509,407,共2页
文章基于阿列纽斯经验公式,利用相关标准中的数据,拟合得到硅集成电路老炼试验温度和时间的关系,根据这种关系可以确定在标准未规定的高温下硅集成电路的老炼时间,同时预计了硅集成电路的工作寿命.最后基于经典的温度应力加速试验模型...
文章基于阿列纽斯经验公式,利用相关标准中的数据,拟合得到硅集成电路老炼试验温度和时间的关系,根据这种关系可以确定在标准未规定的高温下硅集成电路的老炼时间,同时预计了硅集成电路的工作寿命.最后基于经典的温度应力加速试验模型进行了分析,并与前者进行了对比.
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关键词
集成电路
老炼试验
寿命
温度
激活能
下载PDF
职称材料
题名
硅集成电路老炼时间确定和寿命预计
被引量:
6
1
作者
宁永成
机构
中国空间技术研究院物资部可靠性中心
出处
《航天器环境工程》
2010年第4期508-509,407,共2页
文摘
文章基于阿列纽斯经验公式,利用相关标准中的数据,拟合得到硅集成电路老炼试验温度和时间的关系,根据这种关系可以确定在标准未规定的高温下硅集成电路的老炼时间,同时预计了硅集成电路的工作寿命.最后基于经典的温度应力加速试验模型进行了分析,并与前者进行了对比.
关键词
集成电路
老炼试验
寿命
温度
激活能
Keywords
integrated circuit
burn-in test
lifetime
temperature
activation energy
分类号
TN306 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
硅集成电路老炼时间确定和寿命预计
宁永成
《航天器环境工程》
2010
6
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职称材料
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