基于ELM-MPLS的质量相关故障检测方法研究

在工业生产过程中,很多产品的质量难以使用传感器来直接测量。因此,出现了偏最小二乘和潜在结构全投影等过程监测方法,但它们的质量相关故障检测效果并不理想。为此,提出了一种基于极限学习机(ELM)与改进的偏最小二乘(MPLS)的质量相关故障检测方法。该方法首先采用ELM进行质量预测,然后根据预测结果进行过程监测,最后采用田纳西伊斯士曼(TE)过程验证其质量相关故障检测的有效性。实验结果表明,ELM-MPLS不仅可以实现质量预测还提高了质量相关故障检测率,具有良好的质量相关故障检测效果。