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IEEE1149.1可测试性设计技术的研究与发展 被引量:1
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作者 邱峰 梁松海 《测控技术》 CSCD 1999年第1期28-30,共3页
在分析VLSI可测试性设计技术的发展情况和设计准则的基础上,讨论了研究与发展IEEE1149.1可测试性设计技术的重要意义,以及该技术在我国民用和军用工业应用的前景。
关键词 可测试性设计 边界扫描测试 VLSI 超大规模
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