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快速高精度电子元件温度特性测量仪的研制 被引量:6
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作者 王延珺 李阳 +2 位作者 马德才 林少鹏 王彪 《计算机测量与控制》 2016年第3期285-288,共4页
大多数电子元器件的性能受到工作温度的影响,其温度特性对设备稳定性和精确度的影响不容忽视;以半导体致冷器(TEC)为核心,ATMega128A单片机为控制芯片,采用PT100、高精度恒流源和AD7731数模转换器(ADC)组成温度测量模块,运用改进的... 大多数电子元器件的性能受到工作温度的影响,其温度特性对设备稳定性和精确度的影响不容忽视;以半导体致冷器(TEC)为核心,ATMega128A单片机为控制芯片,采用PT100、高精度恒流源和AD7731数模转换器(ADC)组成温度测量模块,运用改进的PID控制算法,以脉冲宽度调制(PWM)方式驱动优化的H桥精确控制加热和制冷功率,结合优化设计的变温腔体,制作了快速、高精度电子元件温度特性测量仪;在-10~80℃之间快速、稳定控制待测元件的温度,控温精度达到±0.2℃;通过计算机控制数字万用表等测量设备,测量了电阻、电容和电感的温度特性曲线;该测量仪还可以用于IC、三极管和LED等元器件的温度特性曲线研究;在实验研究、工业生产和电子实验教学中均具备很高的实用价值。 展开更多
关键词 半导体致冷器 单片机 温度特性曲线
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