能量色散型X-荧光光谱仪快速测定对苯二甲酸中金属杂质

利用X-荧光光谱仪建立了对苯二甲酸(TA)中金属杂质的快速分析方法,简化了样品预处理,优化了操作条件,并对滤光片的选择、激发电压、电流、检测时间等主要影响因素进行了探讨,确定了X-荧光法快速分析TA中金属元素的工作条件,考察了方法的精密度和准确度。新方法克服了经典原子吸收方法测定TA中金属元素样品处理繁杂,分析时间长的缺点。对比试验也取得令人满意的结果。X-荧光光谱法可替代原有原子吸收方法更好地为工艺调控生产和控制产品质量提供及时、可靠的分析数据。