电感耦合等离子体原子发射光谱法测定钨铁中铜锰硅

研究了电感耦合等离子体原子发射光谱法同时测定钨铁中杂质元素Cu，Mn，Si的分析方法，确定了仪器最佳分析条件，考察了试样溶解、元素分析谱线、草酸介质的浓度对被测元素的的影响。试样经草酸-过氧化氢分解后，在苹酸介质中，通过分别选择327．396nm，279．482nm，251．612nm作为铜、锰，硅的分析线和适当的扣背景点，基体元素W，Fe和其他共存元素对测定没有干扰，可以不经分离直接测定。Cu，Mn，Si的检出限分别为0．0052μg／mL，0．0072μg／mL，0．0090μg／mL。本法可以用于同时测定钨铁中的铜、锰、硅，相对标准偏差（n=7）为0．47％～1．98％。