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一种相机外场照像试验转台驱动机构
被引量:
1
1
作者
张洪文
丁亚林
+1 位作者
杨德军
吴斌
《光学精密工程》
EI
CAS
CSCD
2002年第5期504-508,共5页
试验转台是相机动态成像试验不可缺少的试验设备之一 ,试验转台的运转精度 ,平稳性直接影响到相机动态照像的成像质量。从满足相机动态照像需求出发 ,简要介绍转台试验装置的功能和结构总体布局 ,通过转台驱动机构几种结构方案的对比分...
试验转台是相机动态成像试验不可缺少的试验设备之一 ,试验转台的运转精度 ,平稳性直接影响到相机动态照像的成像质量。从满足相机动态照像需求出发 ,简要介绍转台试验装置的功能和结构总体布局 ,通过转台驱动机构几种结构方案的对比分析 ,确定蜗轮、蜗杆传动和摩擦轮传动综合使用的方案 ,主要介绍转台驱动机构的结构及组成 ,并对转台驱动机构传动误差进行了初步分析。
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关键词
相机
外场照像
试验转台
驱动机构
摩擦轮
惰轮组件
平稳性
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职称材料
厚度效应对Pb(Zr_(0.53)Ti_(0.47))O_3薄膜微结构、铁电、介电性能的影响
被引量:
2
2
作者
梁龙
吴斌
杨德军
《光学精密工程》
EI
CAS
CSCD
2002年第5期523-527,共5页
用改进的溶胶 -凝胶法在Pt(111) /Ti/SiO2 /Si(10 0 )衬底上制备了不同厚度的高度 (111)取向的Pb(Zr0 .53 Ti0 .4 7)O3 薄膜。运用X射线衍射 (XRD)和原子力显微镜 (AFM )分析了薄膜的微结构 ,原子力显微镜表明厚度为 0 .3μm和 0 .5 6 ...
用改进的溶胶 -凝胶法在Pt(111) /Ti/SiO2 /Si(10 0 )衬底上制备了不同厚度的高度 (111)取向的Pb(Zr0 .53 Ti0 .4 7)O3 薄膜。运用X射线衍射 (XRD)和原子力显微镜 (AFM )分析了薄膜的微结构 ,原子力显微镜表明厚度为 0 .3μm和 0 .5 6 μm的PZT薄膜的晶粒尺寸和表面粗糙度分别为 0 .2~ 0 .3μm、2~3μm和 0 .92nm、34nm。 0 .3μm和 0 .5 6 μmPZT薄膜的剩余极化 (Pr)和矫顽场 (Ec)分别为 32 .2 μC/cm2 、79.9kV/cm ,2 7.7μC/cm2 、5 4.4kV/cm ;在频率 10 0KHz时 ,薄膜的介电常数和介电损耗分别为 5 39、0 0 6 6 ,82 1、0 .0 2 9。
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关键词
厚度效应
微结构
PZT薄膜
铁电性质
介电性质
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职称材料
题名
一种相机外场照像试验转台驱动机构
被引量:
1
1
作者
张洪文
丁亚林
杨德军
吴斌
机构
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
二炮
驻
二炮北京军代局
出处
《光学精密工程》
EI
CAS
CSCD
2002年第5期504-508,共5页
文摘
试验转台是相机动态成像试验不可缺少的试验设备之一 ,试验转台的运转精度 ,平稳性直接影响到相机动态照像的成像质量。从满足相机动态照像需求出发 ,简要介绍转台试验装置的功能和结构总体布局 ,通过转台驱动机构几种结构方案的对比分析 ,确定蜗轮、蜗杆传动和摩擦轮传动综合使用的方案 ,主要介绍转台驱动机构的结构及组成 ,并对转台驱动机构传动误差进行了初步分析。
关键词
相机
外场照像
试验转台
驱动机构
摩擦轮
惰轮组件
平稳性
Keywords
drive mechanism
friction wheel
ilder pulley assembly
stability
分类号
TB852.1 [一般工业技术—摄影技术]
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职称材料
题名
厚度效应对Pb(Zr_(0.53)Ti_(0.47))O_3薄膜微结构、铁电、介电性能的影响
被引量:
2
2
作者
梁龙
吴斌
杨德军
机构
北京
航空材料研究院先进复合材料国防科技重点实验室
二炮北京军代局
二炮
驻
出处
《光学精密工程》
EI
CAS
CSCD
2002年第5期523-527,共5页
文摘
用改进的溶胶 -凝胶法在Pt(111) /Ti/SiO2 /Si(10 0 )衬底上制备了不同厚度的高度 (111)取向的Pb(Zr0 .53 Ti0 .4 7)O3 薄膜。运用X射线衍射 (XRD)和原子力显微镜 (AFM )分析了薄膜的微结构 ,原子力显微镜表明厚度为 0 .3μm和 0 .5 6 μm的PZT薄膜的晶粒尺寸和表面粗糙度分别为 0 .2~ 0 .3μm、2~3μm和 0 .92nm、34nm。 0 .3μm和 0 .5 6 μmPZT薄膜的剩余极化 (Pr)和矫顽场 (Ec)分别为 32 .2 μC/cm2 、79.9kV/cm ,2 7.7μC/cm2 、5 4.4kV/cm ;在频率 10 0KHz时 ,薄膜的介电常数和介电损耗分别为 5 39、0 0 6 6 ,82 1、0 .0 2 9。
关键词
厚度效应
微结构
PZT薄膜
铁电性质
介电性质
Keywords
dielectric properties
ferroelectric properties
PZT
thin films
分类号
O484 [理学—固体物理]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
一种相机外场照像试验转台驱动机构
张洪文
丁亚林
杨德军
吴斌
《光学精密工程》
EI
CAS
CSCD
2002
1
下载PDF
职称材料
2
厚度效应对Pb(Zr_(0.53)Ti_(0.47))O_3薄膜微结构、铁电、介电性能的影响
梁龙
吴斌
杨德军
《光学精密工程》
EI
CAS
CSCD
2002
2
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职称材料
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参考文献
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