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用金相法测试偏析层厚度的可行性分析 被引量:1
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作者 姜庆 李群 《科学技术与工程》 北大核心 2012年第22期5584-5587,5592,共5页
通过与EDX能谱和扫描电镜测试表面偏析层厚度的结果对比分析可知,金相法测试的表面粗大树枝晶组织厚度即为表面区域偏析层厚度。证明了可以用金相法快速、方便地测试偏析层厚度的可行性。此外,用金相法还测出了两种主要偏析元素Mg,Fe形... 通过与EDX能谱和扫描电镜测试表面偏析层厚度的结果对比分析可知,金相法测试的表面粗大树枝晶组织厚度即为表面区域偏析层厚度。证明了可以用金相法快速、方便地测试偏析层厚度的可行性。此外,用金相法还测出了两种主要偏析元素Mg,Fe形成的FeAl3和Mg2Si相的形态分布。 展开更多
关键词 偏析层 EDX能谱分析 金相
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