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题名液晶显示面板质量改善试验方法探讨(一)
被引量:1
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作者
刘铁磊
刘志昂
高志刚
常晶
汪柯宇
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机构
京东方科技集团股份有限公司cs运营部
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出处
《电子世界》
2019年第14期28-29,32,共3页
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文摘
LCD行业Mura类不良是普遍存在的问题,部分新产品量产初期发生率维持在2.5%以上。本文主要阐述B司质量改善小组,在明确Mura类不良产生因素的基础上,运用0.618法、均分法、方差分析等常用统计分析工具,通过合理安排试验,得出最佳量产条件,并最终将发生率控制在0.5%以下。旨在为工厂不良改善活动提出合理化的试验思路,从而有效减少试验次数,降低生产成本。总结工厂实际不良改善经验,以上方法在LCD工厂不良改善活动中基本适用。
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关键词
液晶显示面板
LCD
统计分析工具
质量改善
Mura
0.618法
方差分析
试验次数
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分类号
TN8
[电子电信—信息与通信工程]
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题名液晶显示面板质量改善试验方法探讨(二)
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作者
刘铁磊
刘志昂
高志刚
常晶
汪柯宇
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机构
京东方科技集团股份有限公司cs运营部
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出处
《电子世界》
2019年第15期30-32,共3页
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文摘
LCD行业Mura类不良是普遍存在的问题,部分新产品量产初期发生率维持在2.5%以上。本文主要阐述B司质量改善小组,在明确Mura类不良产生因素的基础上,运用正交表进行实验设计。通过合理安排试验,得出最佳量产条件,并最终将发生率控制在0.5%以下。旨在为工厂不良改善活动提出合理化的试验思路,从而有效减少试验次数,降低生产成本。总结工厂实际不良改善经验,以上方法在LCD工厂不良改善活动中基本适用。
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关键词
液晶显示面板
LCD
质量改善
Mura
试验次数
正交表
方法探讨
实验设计
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分类号
TN8
[电子电信—信息与通信工程]
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