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液晶显示面板质量改善试验方法探讨(一) 被引量:1
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作者 刘铁磊 刘志昂 +2 位作者 高志刚 常晶 汪柯宇 《电子世界》 2019年第14期28-29,32,共3页
LCD行业Mura类不良是普遍存在的问题,部分新产品量产初期发生率维持在2.5%以上。本文主要阐述B司质量改善小组,在明确Mura类不良产生因素的基础上,运用0.618法、均分法、方差分析等常用统计分析工具,通过合理安排试验,得出最佳量产条件... LCD行业Mura类不良是普遍存在的问题,部分新产品量产初期发生率维持在2.5%以上。本文主要阐述B司质量改善小组,在明确Mura类不良产生因素的基础上,运用0.618法、均分法、方差分析等常用统计分析工具,通过合理安排试验,得出最佳量产条件,并最终将发生率控制在0.5%以下。旨在为工厂不良改善活动提出合理化的试验思路,从而有效减少试验次数,降低生产成本。总结工厂实际不良改善经验,以上方法在LCD工厂不良改善活动中基本适用。 展开更多
关键词 液晶显示面板 LCD 统计分析工具 质量改善 Mura 0.618法 方差分析 试验次数
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液晶显示面板质量改善试验方法探讨(二)
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作者 刘铁磊 刘志昂 +2 位作者 高志刚 常晶 汪柯宇 《电子世界》 2019年第15期30-32,共3页
LCD行业Mura类不良是普遍存在的问题,部分新产品量产初期发生率维持在2.5%以上。本文主要阐述B司质量改善小组,在明确Mura类不良产生因素的基础上,运用正交表进行实验设计。通过合理安排试验,得出最佳量产条件,并最终将发生率控制在0.5... LCD行业Mura类不良是普遍存在的问题,部分新产品量产初期发生率维持在2.5%以上。本文主要阐述B司质量改善小组,在明确Mura类不良产生因素的基础上,运用正交表进行实验设计。通过合理安排试验,得出最佳量产条件,并最终将发生率控制在0.5%以下。旨在为工厂不良改善活动提出合理化的试验思路,从而有效减少试验次数,降低生产成本。总结工厂实际不良改善经验,以上方法在LCD工厂不良改善活动中基本适用。 展开更多
关键词 液晶显示面板 LCD 质量改善 Mura 试验次数 正交表 方法探讨 实验设计
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