浮法玻璃边部线道成因分析及对策

浮法玻璃成形过程中形成的边部线道影响产品质量,扩大原板宽度并切除又影响了总成品率。边部线道产生的原因是由于流道闸板后的玻璃液轮廓线和流道池壁的玻璃液流出唇砖后部分折叠、回流到湿背砖所形成的变形线所致,可以通过增加定边砖的方式减少边部线道的影响,并从设计、施工的角度提出改进方案与建议。

玻璃窑炉卡脖T型吊墙的在线更换

就玻璃窑炉矮碹结构T型吊墙底部砖出现不规则凸起的问题,详细介绍了在线更换卡脖T型吊墙的过程及注意事项。

浮法玻璃生产中划伤与辊印的讨论

针对浮法玻璃生产中退火工段的玻璃品质问题,从退火系统的设计、安装、升温、生产到工艺的调整来对划伤和辊印进行讨论。

底烧法在玻璃窑炉蓄热室格子体疏通中的应用

对玻璃窑炉蓄热室格子体堵塞的原因进行了分析,并就热作用下硫酸盐、碱尘造成的堵塞,使用底烧法疏通格子体进行了举例说明。

双银低辐射镀膜玻璃钢化后黑点缺陷的影响因素探讨

双银低辐射镀膜玻璃因其优异的热力学性能,作为节能玻璃中的高端产品,越来越多地被应用于家电、汽车、住宅等领域。可钢化双银低辐射镀膜产品因其具有可异地加工、产品补片快等特点,也被市场所青睐。在产品生产过程中由于受很多因素的影响,会使钢化后的双银镀膜玻璃产生黑点缺陷。通过对黑点缺陷的分析,对应寻找在磁控溅射生产镀膜玻璃的过程中可能导致缺陷的影响因素,并结合实际生产经验给出相应的改善方法。

薄膜中ZnO/Ag的相对厚度对电学性能的影响

银作为低辐射镀膜玻璃的功能层,保证了低辐射镀膜玻璃具有优异的热力学性能。截至目前,银在低辐射镀膜玻璃中仍然起着不可替代的作用。而银层生长质量的好坏则决定了低辐射镀膜玻璃产品性能的好坏。通过对膜层结构中ZnO/Ag的相对厚度对电学性能的研究,当同时满足ZnO的厚度为4 nm,Ag的厚度为10 nm时,膜层的电学性质最为优异。

负热膨胀材料及β-锂霞石研究进展及应用前景

随着多应用场景对功能器件高热稳定性的要求,负热膨胀材料逐渐进入研究学者的视野。负热膨胀材料与正热膨胀材料的复合,可实现复合材料热膨胀系数的调控,制备近零热膨胀材料,具有广阔的应用前景。该文重点介绍了负热膨胀材料热缩机理及分类,β-锂霞石的研究现状,并对其应用进行了展望。

低辐射薄膜中Ag层前后介质对膜层电学性能的影响

银在低辐射镀膜玻璃中起着举足轻重的作用,银层的生长质量也决定了低辐射镀膜玻璃产品电学性能的差异。通过研究银层前后材料,在保证银层厚度不变的前提下研究材料变化对膜层整体电学性能的影响,从而反应银层生长质量的好坏。结果表明,结构为ZnSnO/ZnO/Ag/ZnO/ZnSnO时,其膜层的电学性质最为优异。

浮法生产线更换流槽的实践总结

更换流槽是浮法生产线一项影响重大的热修工作,文章根据更换操作过程生产线实践,总结出在三大热工设备(窑炉、锡槽、退火窑)保温、流槽安装施工、唇砖烘烤等方面的一些经验,并提出了几点建议。

ZnO工艺对主体结构为ZnO/Ag/ZnO的低辐射薄膜膜层电学性能的影响

对低辐射薄膜电学性能的研究可以反应出功能层银的生长质量,而银的生长质量也决定了低辐射薄膜的性能。通过改变主体结构为ZnO/Ag/ZnO的低辐射薄膜中ZnO的氧气含量、工艺气压及厚度,研究其对薄膜的电学性能的影响。结果表明,当氧化锌氧气含量大于76%,工艺气压在0.62 Pa左右,前氧化锌厚度为10 nm,后氧化锌厚度大于等于5 nm时,膜层的电学性质最为优异。

蓄热室格子砖的损毁机理分析与对策

通过对玻璃熔窑蓄热室镁砖进行取样分析,发现造成格子砖损毁的原因,并提出相应的对策。