期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
芯片测试厂房液氮供应系统设计要点分析
1
作者 商丹 徐立 《化工设计》 CAS 2024年第4期31-34,1,共5页
在芯片低温测试过程中,需要用到液氮来进行变温测试。由于测试过程对液氮的流量、压力要求较为严苛,因此,整个液氮供应系统应该从设计上严格把控。本文针对目前芯片测试厂房中的液氮供应系统设计、设备选型、选材等方面进行简要探讨。
关键词 芯片低温测试 液氮系统 系统设计
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部