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芯片测试厂房液氮供应系统设计要点分析
1
作者
商丹
徐立
《化工设计》
CAS
2024年第4期31-34,1,共5页
在芯片低温测试过程中,需要用到液氮来进行变温测试。由于测试过程对液氮的流量、压力要求较为严苛,因此,整个液氮供应系统应该从设计上严格把控。本文针对目前芯片测试厂房中的液氮供应系统设计、设备选型、选材等方面进行简要探讨。
关键词
芯片低温测试
液氮系统
系统设计
下载PDF
职称材料
题名
芯片测试厂房液氮供应系统设计要点分析
1
作者
商丹
徐立
机构
信息产业电子第十一设计研究院科技工厂股份有限公司
出处
《化工设计》
CAS
2024年第4期31-34,1,共5页
文摘
在芯片低温测试过程中,需要用到液氮来进行变温测试。由于测试过程对液氮的流量、压力要求较为严苛,因此,整个液氮供应系统应该从设计上严格把控。本文针对目前芯片测试厂房中的液氮供应系统设计、设备选型、选材等方面进行简要探讨。
关键词
芯片低温测试
液氮系统
系统设计
Keywords
low temperature testing of chips
liquid nitrogen system
system design
分类号
TB21 [一般工业技术—工程设计测绘]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
芯片测试厂房液氮供应系统设计要点分析
商丹
徐立
《化工设计》
CAS
2024
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