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nMOSFET X射线辐射影响研究
被引量:
3
1
作者
罗宏伟
杨银堂
+1 位作者
恩云飞
朱樟明
《核电子学与探测技术》
CAS
CSCD
北大核心
2004年第3期246-248,245,共4页
介绍了在强电流作用下的ggnMOS作用机理,分析了ggnMOS抗ESD能力的主要表征参数,利用X射线辐射系统和TLP测试系统研究了辐射总剂量对ggnMOS抗ESD能力的影响。试验结果表明,随辐射总剂量的增加,ggnMOS的开启电压、维持电压都将下降,这有...
介绍了在强电流作用下的ggnMOS作用机理,分析了ggnMOS抗ESD能力的主要表征参数,利用X射线辐射系统和TLP测试系统研究了辐射总剂量对ggnMOS抗ESD能力的影响。试验结果表明,随辐射总剂量的增加,ggnMOS的开启电压、维持电压都将下降,这有利于提高ggnMOS的抗ESD能力,而表征其抗ESD能力的参数(二次击穿电流It2)开始随辐射总剂量的增加而减少,到达一定剂量后将随总剂量的增加而增加。
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关键词
栅接地nMOS
ESD
辐射总剂量
开启电压
二次击穿电流
X射线辐射
下载PDF
职称材料
题名
nMOSFET X射线辐射影响研究
被引量:
3
1
作者
罗宏伟
杨银堂
恩云飞
朱樟明
机构
西安
电子
科技
大学微
电子
所
信息产业部电子五所分析中心电子元器件可靠性物理及其应用技术国防科技重点实验室
出处
《核电子学与探测技术》
CAS
CSCD
北大核心
2004年第3期246-248,245,共4页
基金
国家"十五"预研基金(41308060602)
重点实验室基金资助
文摘
介绍了在强电流作用下的ggnMOS作用机理,分析了ggnMOS抗ESD能力的主要表征参数,利用X射线辐射系统和TLP测试系统研究了辐射总剂量对ggnMOS抗ESD能力的影响。试验结果表明,随辐射总剂量的增加,ggnMOS的开启电压、维持电压都将下降,这有利于提高ggnMOS的抗ESD能力,而表征其抗ESD能力的参数(二次击穿电流It2)开始随辐射总剂量的增加而减少,到达一定剂量后将随总剂量的增加而增加。
关键词
栅接地nMOS
ESD
辐射总剂量
开启电压
二次击穿电流
X射线辐射
Keywords
ggnMOS
ESD total dose irradiation
turn-on-voltage
second breakdown current
分类号
TN406 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
nMOSFET X射线辐射影响研究
罗宏伟
杨银堂
恩云飞
朱樟明
《核电子学与探测技术》
CAS
CSCD
北大核心
2004
3
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