一种基于测例层模型的功能验证方法

针对集成电路功能验证的完整性和重用性问题,使用测例层模型,构建协议功能完整覆盖的验证计划,并使用UVM验证方法和库函数搭建验证环境,对一款符合GJB 800/900 MHz RFID芯片系统的设计进行功能验证。所提出的测例层模型具备通用性。填充协议内容后的模型,在满足相同协议的设计之间可重用,在相似协议或非完整协议的设计中也可重用,即面向协议的测例层VIP及其构建方法。最终保证了GJB协议芯片的验证覆盖率,在TSMC 0.18μm工艺流片成功。