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烧结温度曲线对肖特基产品质量的影响
1
作者
张军利
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
1997年第5期33-35,共3页
在肖特基半桥产品的后部封装工艺中,烧结是影响产品质量的主要工序,而在烧结过程中,烧结温度又是最主要的因素。本文结合生产实践讨论了烧结温度对肖特基产品质量的影响,通过理论分析得出了结论,提高了产品合格率。
关键词
烧结
共熔
肖特基
封装
半导体器件
下载PDF
职称材料
题名
烧结温度曲线对肖特基产品质量的影响
1
作者
张军利
机构
八七七厂二分厂
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
1997年第5期33-35,共3页
文摘
在肖特基半桥产品的后部封装工艺中,烧结是影响产品质量的主要工序,而在烧结过程中,烧结温度又是最主要的因素。本文结合生产实践讨论了烧结温度对肖特基产品质量的影响,通过理论分析得出了结论,提高了产品合格率。
关键词
烧结
共熔
肖特基
封装
半导体器件
分类号
TN305.94 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
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1
烧结温度曲线对肖特基产品质量的影响
张军利
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
1997
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