期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
烧结温度曲线对肖特基产品质量的影响
1
作者 张军利 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 1997年第5期33-35,共3页
在肖特基半桥产品的后部封装工艺中,烧结是影响产品质量的主要工序,而在烧结过程中,烧结温度又是最主要的因素。本文结合生产实践讨论了烧结温度对肖特基产品质量的影响,通过理论分析得出了结论,提高了产品合格率。
关键词 烧结 共熔 肖特基 封装 半导体器件
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部