期刊导航
期刊开放获取
河南省图书馆
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
6
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式:
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
静电感应晶闸管静态特性的仿真模拟
被引量:
1
1
作者
薛伟东
李思渊
+1 位作者
刘英坤
刘英坤
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2002年第9期68-71,共4页
引入了一种SITH仿真模型。结合实验数据,利用PSPICE模拟软件,从等效电路的角度对静电感应晶闸管(SITH)进行了正向导通,类三极管正向阻断、负阻转折特性的仿真模拟。
关键词
静态特性
静电感应晶闸管
负阻转折
仿真模拟
SITH
正向导通
下载PDF
职称材料
静电感应晶体管高频功率参数的控制
2
作者
孟雄晖
李思渊
姜岩峰
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
1999年第3期28-32,共5页
以对静电感应晶体管(SIT)的直流参数的研究为基础,详细研究了与SIT高频性能有关的参数的控制与调节。在高频状态下,器件引线寄生电感的影响变得严重,使得对器件的封装有了新的要求,本文对这一问题也进行了探讨。
关键词
SIT
功率增益
封装
静电感应晶体管
下载PDF
职称材料
静电感应晶闸管的工艺控制和参数调节
3
作者
孟雄晖
李思渊
姜岩峰
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2000年第1期25-27,共3页
以静电感应晶闸管(SITH)的长期工艺实践为基础,总结和研究了器件结构参数对SITH主要性能参数的影响,并分析了其原因。
关键词
静电感应晶闸管
工艺控制
参数调节
下载PDF
职称材料
双极型静电感应晶体管开关时间的测量与分析
4
作者
姜岩峰
李思渊
+1 位作者
李海蓉
刘肃
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
1998年第5期25-28,共4页
从理论和实验两方面对静电感应晶体管(BSIT)的开关时间进行了分析和测量,提出了简单的分析方法,将影响BSIT开关时间的各个因素归结为结构因子和材料因子,从而简化了分析影响BSIT开关时间的因素,对于BSIT的实际工...
从理论和实验两方面对静电感应晶体管(BSIT)的开关时间进行了分析和测量,提出了简单的分析方法,将影响BSIT开关时间的各个因素归结为结构因子和材料因子,从而简化了分析影响BSIT开关时间的因素,对于BSIT的实际工艺、结构设计有指导意义。
展开更多
关键词
BSIT
开关时间
势垒
双极型
静电感应晶体管
下载PDF
职称材料
用SIPOS-SiO_2复合层对4H-SiCn^+pp^+结构钝化的分析
5
作者
姜岩峰
李思渊
+2 位作者
刘肃
曹磊
薄建军
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2000年第7期686-690,共5页
用半绝缘多晶硅 ( SIPOS) - Si O2 复合层作为 4H- Si C n+ pp+结构的钝化层 ,克服了用多孔碳化硅或单纯用 Si O2 钝化的不足 .在 LPCVD淀积 SIPOS层后 ,用 90 0℃氧气氛退火代替了平常的热氧化 ,在 SIPOS层上生长了一层 Si O2 .实际测...
用半绝缘多晶硅 ( SIPOS) - Si O2 复合层作为 4H- Si C n+ pp+结构的钝化层 ,克服了用多孔碳化硅或单纯用 Si O2 钝化的不足 .在 LPCVD淀积 SIPOS层后 ,用 90 0℃氧气氛退火代替了平常的热氧化 ,在 SIPOS层上生长了一层 Si O2 .实际测量证实了这种新方法的合理性 .分析了各主要工艺对钝化效果的影响 ,综合优化指出 :在淀积 SIPOS层时 ,掺氧量要高 ,而淀积温度不应太高 .用此方法钝化的 4H- Si C n+ pp+ 结构 ,击穿电压接近理想值 。
展开更多
关键词
复合层
钝化层
碳化硅
SIPOS
二氧化硅
下载PDF
职称材料
SITH负阻转折特性的分析模型
6
作者
姜岩峰
李思渊
刘肃
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2000年第2期20-22,31,共4页
提出了一个用于分析 SITH正向阻断态的新模型。这个模型在结构上类似于 SCR。这样 ,就可以把SITH的二维分析简化为 SCR的一维分析。我们应用了这个模型来分析 SITH的负阻特性并且计算出了阳极正向转折电压 ,计算结果与实际测量值相符合 。
关键词
负担转折特性
静态感应晶闸管
分析模型
下载PDF
职称材料
题名
静电感应晶闸管静态特性的仿真模拟
被引量:
1
1
作者
薛伟东
李思渊
刘英坤
刘英坤
机构
兰州大学物理系静电感应器件研究所
信息产业部电子第十三
研究所
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2002年第9期68-71,共4页
文摘
引入了一种SITH仿真模型。结合实验数据,利用PSPICE模拟软件,从等效电路的角度对静电感应晶闸管(SITH)进行了正向导通,类三极管正向阻断、负阻转折特性的仿真模拟。
关键词
静态特性
静电感应晶闸管
负阻转折
仿真模拟
SITH
正向导通
Keywords
SITH
negative-resistance transition
simulation
分类号
TN34 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
静电感应晶体管高频功率参数的控制
2
作者
孟雄晖
李思渊
姜岩峰
机构
兰州大学物理系静电感应器件研究所
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
1999年第3期28-32,共5页
文摘
以对静电感应晶体管(SIT)的直流参数的研究为基础,详细研究了与SIT高频性能有关的参数的控制与调节。在高频状态下,器件引线寄生电感的影响变得严重,使得对器件的封装有了新的要求,本文对这一问题也进行了探讨。
关键词
SIT
功率增益
封装
静电感应晶体管
Keywords
SIT High frequency Power gain Package
分类号
TN386.701 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
静电感应晶闸管的工艺控制和参数调节
3
作者
孟雄晖
李思渊
姜岩峰
机构
兰州大学物理系静电感应器件研究所
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2000年第1期25-27,共3页
文摘
以静电感应晶闸管(SITH)的长期工艺实践为基础,总结和研究了器件结构参数对SITH主要性能参数的影响,并分析了其原因。
关键词
静电感应晶闸管
工艺控制
参数调节
Keywords
SITH Maximum blocking voltage Blocking gain On state voltage drop
分类号
TN386.7 [电子电信—物理电子学]
TN34 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
双极型静电感应晶体管开关时间的测量与分析
4
作者
姜岩峰
李思渊
李海蓉
刘肃
机构
兰州大学物理系静电感应器件研究所
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
1998年第5期25-28,共4页
文摘
从理论和实验两方面对静电感应晶体管(BSIT)的开关时间进行了分析和测量,提出了简单的分析方法,将影响BSIT开关时间的各个因素归结为结构因子和材料因子,从而简化了分析影响BSIT开关时间的因素,对于BSIT的实际工艺、结构设计有指导意义。
关键词
BSIT
开关时间
势垒
双极型
静电感应晶体管
Keywords
BSIT Switching time Potential barrier Combination Structure factor Material factor
分类号
TN386.707 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
用SIPOS-SiO_2复合层对4H-SiCn^+pp^+结构钝化的分析
5
作者
姜岩峰
李思渊
刘肃
曹磊
薄建军
机构
兰州大学物理系静电感应器件研究所
出处
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2000年第7期686-690,共5页
文摘
用半绝缘多晶硅 ( SIPOS) - Si O2 复合层作为 4H- Si C n+ pp+结构的钝化层 ,克服了用多孔碳化硅或单纯用 Si O2 钝化的不足 .在 LPCVD淀积 SIPOS层后 ,用 90 0℃氧气氛退火代替了平常的热氧化 ,在 SIPOS层上生长了一层 Si O2 .实际测量证实了这种新方法的合理性 .分析了各主要工艺对钝化效果的影响 ,综合优化指出 :在淀积 SIPOS层时 ,掺氧量要高 ,而淀积温度不应太高 .用此方法钝化的 4H- Si C n+ pp+ 结构 ,击穿电压接近理想值 。
关键词
复合层
钝化层
碳化硅
SIPOS
二氧化硅
Keywords
SiC
passivation layer
分类号
TN304 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
SITH负阻转折特性的分析模型
6
作者
姜岩峰
李思渊
刘肃
机构
兰州大学物理系静电感应器件研究所
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2000年第2期20-22,31,共4页
文摘
提出了一个用于分析 SITH正向阻断态的新模型。这个模型在结构上类似于 SCR。这样 ,就可以把SITH的二维分析简化为 SCR的一维分析。我们应用了这个模型来分析 SITH的负阻特性并且计算出了阳极正向转折电压 ,计算结果与实际测量值相符合 。
关键词
负担转折特性
静态感应晶闸管
分析模型
Keywords
SITH Negative resistance characteristic
分类号
TN34 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
静电感应晶闸管静态特性的仿真模拟
薛伟东
李思渊
刘英坤
刘英坤
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2002
1
下载PDF
职称材料
2
静电感应晶体管高频功率参数的控制
孟雄晖
李思渊
姜岩峰
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
1999
0
下载PDF
职称材料
3
静电感应晶闸管的工艺控制和参数调节
孟雄晖
李思渊
姜岩峰
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2000
0
下载PDF
职称材料
4
双极型静电感应晶体管开关时间的测量与分析
姜岩峰
李思渊
李海蓉
刘肃
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
1998
0
下载PDF
职称材料
5
用SIPOS-SiO_2复合层对4H-SiCn^+pp^+结构钝化的分析
姜岩峰
李思渊
刘肃
曹磊
薄建军
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2000
0
下载PDF
职称材料
6
SITH负阻转折特性的分析模型
姜岩峰
李思渊
刘肃
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2000
0
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部